Rietveld法全譜擬合已成為X射線多晶衍射修正晶體結(jié)構(gòu)的重要方法。本書共分為四章，側(cè)重從操作示例介紹Rietveld法的基本原理和精修過程。第1章簡(jiǎn)要介紹Rietveld法的發(fā)展概況和基本原理。第2章介紹精修軟件EXPGUI-GSAS的安裝和使用界面。第3章介紹Rietveld法X射線多晶衍射數(shù)據(jù)的實(shí)驗(yàn)測(cè)試，并以簡(jiǎn)單例子演示EXPGUI-GSAS精修過程以及結(jié)果的提取和圖譜繪圖。第4章給出了三個(gè)提高練習(xí)示例，包括創(chuàng)建儀器參數(shù)文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。
《X射線多晶衍射數(shù)據(jù)Rietveld精修及GSAS軟件入門》一書具有很強(qiáng)的實(shí)用性，可以作為材料、化學(xué)以及地質(zhì)等領(lǐng)域?qū)W習(xí)X射線多晶衍射Rietveld法結(jié)構(gòu)精修和GSAS軟件的研究人員的入門參考書，也可以作為本科生、研究生教學(xué)的實(shí)驗(yàn)教材
第1章Rietveld法結(jié)構(gòu)精修
1.1Rietveld法結(jié)構(gòu)精修發(fā)展概況
1.2Rietveld法基本原理
1.3參數(shù)修正順序與結(jié)果判據(jù)
1.3.1參數(shù)修正的順序
1.3.2精修的數(shù)值判據(jù)
1.3.3精修的圖示判斷
1.4精修過程出現(xiàn)的問題和對(duì)策
1.5Rietveld法結(jié)構(gòu)精修的應(yīng)用
1.5.1修正晶體結(jié)構(gòu)
1.5.2相變研究和點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定
1.5.3物相定量分析
1.5.4晶粒尺寸和微應(yīng)變測(cè)定
第2章EXPGUI-GSAS軟件安裝與界面介紹
2.1GSAS軟件簡(jiǎn)介
2.2EXPGUI-GSAS軟件的安裝
2.3EXPGUI-GSAS軟件界面介紹
2.3.1菜單欄
2.3.2選項(xiàng)卡界面
2.3.3EXPGUI幫助內(nèi)容
第3章EXPGUI-GSAS結(jié)構(gòu)精修起步
3.1精修前的準(zhǔn)備工作
3.1.1衍射數(shù)據(jù)的測(cè)定
3.1.2衍射數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)換
3.1.3初始結(jié)構(gòu)的獲取
3.2EXPGUI精修簡(jiǎn)單示例
3.2.1生成EXP文件
3.2.2精修過程
3.2.3常見問題
3.3精修結(jié)果提取與繪圖
3.3.1精修結(jié)果提取
3.3.2精修圖譜繪圖
第4章EXPGUI-GSAS提高練習(xí)
4.1儀器參數(shù)文件的建立
4.1.1基本知識(shí)
4.1.2操作過程
4.2物相(含非晶)定量分析
4.2.1基本原理
4.2.2衍射數(shù)據(jù)測(cè)試
4.2.3精修過程
4.3Le Bail法擬合以及約束的使用
4.3.1問題描述
4.3.2精修過程
參考文獻(xiàn)
