Ieee Transactions On Reliability是計算機科學(xué)領(lǐng)域的一本權(quán)威期刊。由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。該期刊主要發(fā)表計算機科學(xué)領(lǐng)域的原創(chuàng)性研究成果。創(chuàng)刊于1963年，是計算機科學(xué)領(lǐng)域中具有代表性的學(xué)術(shù)刊物。該期刊主要刊載工程技術(shù)-工程：電子與電氣及其基礎(chǔ)研究的前瞻性、原始性、首創(chuàng)性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領(lǐng)域的科技成就和進展，更以其深厚的學(xué)術(shù)積淀和卓越的審稿標(biāo)準(zhǔn)，確保每篇文章都具備高度的學(xué)術(shù)價值。此外，該刊同時被SCIE數(shù)據(jù)庫收錄，并被劃分為中科院SCI2區(qū)期刊，它始終堅持創(chuàng)新，不斷專注于發(fā)布高度有價值的研究成果，不斷推動計算機科學(xué)領(lǐng)域的進步。

同時，我們注重來稿文章表述的清晰度，以及其與我們的讀者群體和研究領(lǐng)域的相關(guān)性。為此，我們期待所有投稿的文章能夠保持簡潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 約4.5個月 。若您對于稿件是否適合該期刊存在疑慮，建議您在提交前主動與期刊主編取得聯(lián)系，或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據(jù)您的研究內(nèi)容和方向，為您推薦最為合適的期刊，助力您順利投稿，實現(xiàn)學(xué)術(shù)成果的順利發(fā)表。