引論：我們?yōu)槟砹?3篇集成測(cè)試范文，供您借鑒以豐富您的創(chuàng)作。它們是您寫(xiě)作時(shí)的寶貴資源，期望它們能夠激發(fā)您的創(chuàng)作靈感，讓您的文章更具深度。
篇1
Analysis of Integration Testing of Software Testing
Hou Yanfang,Chu Shulai
(Zhoukou Vocational and Technical College,Zhoukou466001,China)
Abstract:The integration testing plays a very important role in software testing,the concept of integration testing,integration testing strategy and the main types of integration testing (phase) briefly discusses the analysis of several key integration testing.
Keywords:Software testing;Integration testing;Call graph;MM-path
軟件測(cè)試作為軟件質(zhì)量保證的關(guān)鍵技術(shù)之一，其目的就是能夠有效地發(fā)現(xiàn)軟件中的錯(cuò)誤或缺陷。集成測(cè)試是軟件測(cè)試中處于組件測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之間一個(gè)非常重要的環(huán)節(jié)，這是因?yàn)樗薪M件都經(jīng)過(guò)測(cè)試并能正常運(yùn)行并不意味著這些組件放到一起經(jīng)過(guò)集成后還能正常運(yùn)行，正是基于這一點(diǎn)，很多大的軟件公司成立了專門(mén)關(guān)注集成測(cè)試的測(cè)試團(tuán)隊(duì)，如能恰當(dāng)實(shí)施，集成測(cè)試能大大減少一些在系統(tǒng)測(cè)試階段才會(huì)發(fā)現(xiàn)的缺陷。
一、集成測(cè)試的概念
（一）集成測(cè)試的定義
集成測(cè)試是構(gòu)造軟件體系結(jié)構(gòu)的系統(tǒng)化技術(shù)，同時(shí)也是進(jìn)行一些旨在發(fā)現(xiàn)與接口相關(guān)的錯(cuò)誤的測(cè)試。其目標(biāo)是利用已通過(guò)單元測(cè)試的構(gòu)件建立設(shè)計(jì)中描述的程序結(jié)構(gòu)。
（二）集成測(cè)試遵循的原則
集成測(cè)試遵循的原則主要包括：所有公共接口都要被測(cè)試到；關(guān)鍵模塊必須進(jìn)行充分的測(cè)試；集成測(cè)試應(yīng)當(dāng)按一定的層次進(jìn)行；集成測(cè)試的策略選擇應(yīng)當(dāng)綜合考慮質(zhì)量、成本和進(jìn)度之間的關(guān)系；集成測(cè)試應(yīng)當(dāng)盡早開(kāi)始，并已總體設(shè)計(jì)為基礎(chǔ)；在模塊與接口的劃分上，測(cè)試人員應(yīng)當(dāng)和開(kāi)發(fā)人員進(jìn)行充分的溝通；當(dāng)接口發(fā)生修改時(shí)，涉及的相關(guān)接口必須進(jìn)行再測(cè)試；測(cè)試執(zhí)行結(jié)果應(yīng)當(dāng)如實(shí)的記錄；集成測(cè)試應(yīng)根據(jù)集成測(cè)試計(jì)劃和方案進(jìn)行，不能隨意測(cè)試；項(xiàng)目管理者應(yīng)保證審核測(cè)試用例。
（三）集成測(cè)試的任務(wù)
集成測(cè)試的主要任務(wù)包括：將各模塊連接起來(lái)，檢查模塊相互調(diào)用時(shí)，數(shù)據(jù)經(jīng)過(guò)接口是否丟失；將各個(gè)子功能組合起來(lái)，檢查能否達(dá)到預(yù)期要求的各項(xiàng)功能；一個(gè)模塊的功能是否會(huì)對(duì)另一個(gè)模塊的功能產(chǎn)生不利的影響；全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)是否有問(wèn)題，會(huì)不會(huì)被異常修改；單個(gè)模塊的誤差積累起來(lái)，是否被放大，從而達(dá)到不可接受的程度。
（四）集成測(cè)試的文檔
軟件集成的總體計(jì)劃和特定的測(cè)試描述應(yīng)該在測(cè)試規(guī)約中文檔化。這個(gè)文檔包含測(cè)試計(jì)劃和測(cè)試規(guī)程，它是軟件過(guò)程的工作產(chǎn)品，也是軟件配置的一部分。
下列準(zhǔn)則和相應(yīng)的測(cè)試可應(yīng)用于所有的測(cè)試階段：接口一致性。當(dāng)每個(gè)模塊（或簇）引入程序結(jié)構(gòu)中時(shí)，要對(duì)其內(nèi)部和外部接口進(jìn)行測(cè)試；功能有效性。執(zhí)行的測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)功能錯(cuò)誤；信息內(nèi)容。執(zhí)行的測(cè)試旨在發(fā)現(xiàn)與局部或全局?jǐn)?shù)據(jù)結(jié)構(gòu)相關(guān)的錯(cuò)誤；性能。執(zhí)行的測(cè)試旨在驗(yàn)證軟件設(shè)計(jì)期間建立的性能邊界。
測(cè)試計(jì)劃主要包括：集成測(cè)試的進(jìn)度，確定每個(gè)階段的開(kāi)始和結(jié)束時(shí)間；附加軟件（樁模塊及驅(qū)動(dòng)模塊）的簡(jiǎn)要描述側(cè)重于專門(mén)進(jìn)行的工作的特征；描述測(cè)試環(huán)境和資源；特殊的硬件配置、特殊的仿真器和專門(mén)的測(cè)試工具或技術(shù)也是需要討論的問(wèn)題；詳細(xì)測(cè)試規(guī)程。
測(cè)試規(guī)約：集成策略（包含在測(cè)試計(jì)劃中）和測(cè)試細(xì)節(jié)（在測(cè)試規(guī)程中描述）是最基本的成分，因此必須要有。
二、集成測(cè)試的策略
驅(qū)動(dòng)模塊（Driver）：用來(lái)模擬待測(cè)模塊的上級(jí)模塊。驅(qū)動(dòng)模塊在集成測(cè)試中接受測(cè)試數(shù)據(jù)，將相關(guān)的數(shù)據(jù)傳送給待測(cè)模塊，啟動(dòng)待測(cè)模塊，并打印出相應(yīng)的結(jié)果。樁模塊（Stub）：也稱為存根程序，用以模擬待測(cè)模塊工作過(guò)程中所調(diào)用的模塊。樁模塊由待測(cè)模塊調(diào)用，它們一般只進(jìn)行很少的數(shù)據(jù)處理，例如打印入口和返回，以便于檢驗(yàn)待測(cè)模塊與下級(jí)模塊的接口。
一般可分為非增量集成和增量式集成，其中增量集成指的是程序以小增量的方式逐步進(jìn)行構(gòu)造和測(cè)試，這樣錯(cuò)誤易于分離和糾正，更易于對(duì)接口進(jìn)行徹底測(cè)試，而且可以運(yùn)用系統(tǒng)化的測(cè)試方法，傳統(tǒng)的將增量測(cè)試策略分為自頂向下集成、自底向上集成以及三明治集成。
三、集成測(cè)試的主要類型（階段）
（一）基于功能分解的集成
在討論集成測(cè)試時(shí)，測(cè)試方法都基于采用樹(shù)或文字形式來(lái)表示的功能分解。這類討論不可避免地要深入到將要集成的模塊的順序。
1.自頂向下集成（從樹(shù)頂開(kāi)始向下）。深度優(yōu)先集成是首先集成結(jié)構(gòu)中主控路徑下的所有模塊。
2.自底向上集成（從樹(shù)底開(kāi)始向上）。自底向上集成是自頂向下順序的“鏡像”，不同的是，樁由模擬功能分解樹(shù)上一層單元的驅(qū)動(dòng)模塊替代。在自底向上集成中，首先從分解樹(shù)的葉子開(kāi)始，并用特別編寫(xiě)的驅(qū)動(dòng)模塊進(jìn)行測(cè)試。驅(qū)動(dòng)模塊中的一次性代碼比樁中的少。大多數(shù)系統(tǒng)在接近葉子節(jié)點(diǎn)時(shí)都有相當(dāng)高的扇出數(shù)，因此在自底向上集成順序中，不需要同樣數(shù)量的驅(qū)動(dòng)模塊，不過(guò)代價(jià)是驅(qū)動(dòng)模塊都比較復(fù)雜。
3.三明治集成（前兩種方法的某種組合）。三明治集成測(cè)試是將自頂向下測(cè)試與自底向上測(cè)試兩種模式有機(jī)結(jié)合起來(lái)，采用并行的自頂向下、自底向上集成方式，形成的方法。三明治集成測(cè)試更重要的是采取持續(xù)集成的策略。樁和驅(qū)動(dòng)的開(kāi)發(fā)工作都比較小，不過(guò)代價(jià)是作為大爆炸集成的后果，在一定程度上增加了定位缺陷的難度。
（二）基于功能分解方法的優(yōu)缺點(diǎn)
1.自頂向下集成，其優(yōu)點(diǎn)：在于它可以自然地做到逐步求精，一開(kāi)始就能讓測(cè)試者看到系統(tǒng)的框架。缺點(diǎn)：需要提供樁模塊，樁模塊是對(duì)被調(diào)用子模塊的模擬，可能不能反映真實(shí)情況，因此測(cè)試有可能不充分。
由于被調(diào)用模擬子模塊不能模擬數(shù)據(jù)，如果模塊間的數(shù)據(jù)流不能構(gòu)成有向無(wú)環(huán)圖，一些模塊的測(cè)試數(shù)據(jù)便難以生成。同時(shí)，觀察和解釋測(cè)試輸出往往也是困難的。
2.自底向上集成，其優(yōu)點(diǎn)：由于驅(qū)動(dòng)模塊模擬了所有調(diào)用參數(shù)，即便數(shù)據(jù)流并未構(gòu)成有向無(wú)環(huán)圖，生成測(cè)試數(shù)據(jù)也沒(méi)有困難。如果關(guān)鍵的模塊是在結(jié)構(gòu)圖的底部，那么自底向上測(cè)試是有優(yōu)越性的。缺點(diǎn)：直到最后一個(gè)模塊被加入進(jìn)去之后才能看到整個(gè)程序(系統(tǒng))的框架。
3.三明治集成測(cè)試采用自頂向下、自底向上集成相結(jié)合的方式，并采取持續(xù)集成的策略，有助于盡早發(fā)現(xiàn)缺陷，也有利于提高工作效率。
4.功能分解缺點(diǎn)。為了滿足項(xiàng)目管理的需要，而不是為了滿足軟件開(kāi)發(fā)人員的需要。樁或驅(qū)動(dòng)的開(kāi)發(fā)工作量，此外還有重新測(cè)試所需工作量的問(wèn)題。對(duì)于自頂向下集成，需要開(kāi)發(fā)（節(jié)點(diǎn)-1個(gè)）樁模塊；對(duì)于自底向上集成，需要開(kāi)發(fā)（節(jié)點(diǎn)-葉子）個(gè)驅(qū)動(dòng)模塊。
（三）基于調(diào)用圖的集成
基于調(diào)用圖的集成一般分為成對(duì)集成和相鄰集成。基于調(diào)用圖方法的優(yōu)點(diǎn)：偏離了純結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)，轉(zhuǎn)向行為基礎(chǔ)，因此底層假設(shè)是一種改進(jìn)；這些技術(shù)還免除了樁／驅(qū)動(dòng)器開(kāi)發(fā)工作量；與以構(gòu)建和合成為特征的開(kāi)發(fā)匹配得很好。缺點(diǎn)：缺陷隔離問(wèn)題，尤其是對(duì)有大量鄰居的情況；清除缺陷后，意味著以前測(cè)試過(guò)的包含已變更代碼的鄰居，都需要重新進(jìn)行測(cè)試。
（四）基于路徑的集成
將集成測(cè)試的側(cè)重點(diǎn)由測(cè)試單獨(dú)開(kāi)發(fā)并通過(guò)測(cè)試的單元之間的接口，轉(zhuǎn)移到這些單元的交互上，即它們的“協(xié)同功能”上。接口是結(jié)構(gòu)性的，而交互是功能性的。
MM-路徑是功能性測(cè)試和結(jié)構(gòu)性測(cè)試的一種混合，其優(yōu)點(diǎn)：它與實(shí)際系統(tǒng)行為結(jié)合緊密，而不依賴于基于分解和調(diào)用圖集成的結(jié)構(gòu)性推動(dòng)。基于路徑集成測(cè)試也適用于面向?qū)ο蟮能浖y(cè)試。缺點(diǎn)：需要更多的工作量標(biāo)識(shí)MM-路徑。這種工作量可能會(huì)與樁和驅(qū)動(dòng)的開(kāi)發(fā)所需工作量有偏差。
（五）面向?qū)ο蟓h(huán)境中的集成測(cè)試
兩種不同的策略：
1.基于線程的測(cè)試(thread-based testing）。
2.基于使用的測(cè)試（use-based testing）。
驅(qū)動(dòng)程序和樁程序：驅(qū)動(dòng)程序可用于測(cè)試低層中的操作和整組類的測(cè)試。驅(qū)動(dòng)程序也可用于代替用戶界面以便在界面實(shí)現(xiàn)之前就可以進(jìn)行系統(tǒng)功能的測(cè)試。樁程序可用于在需要類間的協(xié)作但其中的一個(gè)或多個(gè)協(xié)作類仍未完全實(shí)現(xiàn)的情況下。
四、結(jié)語(yǔ)
集成測(cè)試既是一種測(cè)試類型也是一個(gè)測(cè)試階段，因?yàn)榧啥x為一組交互，因此組件之間的所有已定義的交互都需要測(cè)試，體系結(jié)構(gòu)和設(shè)計(jì)可以提供系統(tǒng)內(nèi)部的交互細(xì)節(jié)，但是測(cè)試一個(gè)系統(tǒng)與另一個(gè)系統(tǒng)之間的交互要求對(duì)這些系統(tǒng)一起工作的方式有深刻理解，此時(shí)的集成測(cè)試是一個(gè)階段。由于集成測(cè)試的目標(biāo)是模塊之間的交互，這種測(cè)試就像白盒、黑盒及其它類型的測(cè)試一樣，也有一套技術(shù)和方法，因此集成測(cè)試也被看作是一種測(cè)試類型。
參考文獻(xiàn)：
[1]周燕,宋敬華.面向?qū)ο蟮募蓽y(cè)試順序的研究[J].計(jì)算機(jī)測(cè)量與控制,2010,9
[2]張?jiān)茘?劉春茂.軟件測(cè)試技術(shù)淺析[J].技術(shù)與市場(chǎng),2011,2
[3]朱家云.淺析軟件測(cè)試[J].信息系統(tǒng)工程,2011,4
[4王麗達(dá).論軟件系統(tǒng)的測(cè)試[J].經(jīng)濟(jì)研究導(dǎo)刊,2011,14
[5]劉欣.軟件測(cè)試方法分析與實(shí)踐[D].北京郵電大學(xué),2009
篇2
【報(bào)告名稱】中國(guó)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)投資咨詢報(bào)告
【報(bào)告性質(zhì)】專項(xiàng)調(diào)研：需方可根據(jù)需求對(duì)報(bào)告目錄修改，經(jīng)雙方確認(rèn)后簽訂正式協(xié)議。
【關(guān)鍵詞】集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)投資咨詢
【制作機(jī)關(guān)】中國(guó)市場(chǎng)調(diào)查研究中心
【交付方式】電子郵件特快專遞
【報(bào)告價(jià)格】協(xié)商定價(jià)（紙介版、電子版）
【定購(gòu)電話】010-68452508010-88430838
報(bào)告目錄
一、集成電路測(cè)試概述
(一)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)定義、基本概念
(二)集成電路測(cè)試基本特點(diǎn)
(三)集成電路測(cè)試產(chǎn)品分類
二、集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)分析
(一)國(guó)際集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)發(fā)展總體概況
1、本產(chǎn)業(yè)國(guó)際現(xiàn)狀分析
2、本產(chǎn)業(yè)主要國(guó)家和地區(qū)情況
3、本產(chǎn)業(yè)國(guó)際發(fā)展趨勢(shì)分析
4、2007國(guó)際集成電路測(cè)試發(fā)展概況
(二)我國(guó)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)的發(fā)展?fàn)顩r
1、我國(guó)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)發(fā)展基本情況
2、集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)的總體現(xiàn)狀
3、集成電路測(cè)試行業(yè)發(fā)展中存在的問(wèn)題
4、2007我國(guó)集成電路測(cè)試行業(yè)發(fā)展回顧
三、2007年中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)分析
(一)我國(guó)集成電路測(cè)試整體市場(chǎng)規(guī)模
1、總量規(guī)模
2、增長(zhǎng)速度
3、各季度市場(chǎng)情況
(二)我國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)發(fā)展現(xiàn)狀分析
(三)原材料市場(chǎng)分析
(四)集成電路測(cè)試區(qū)域市場(chǎng)分析
(五)集成電路測(cè)試市場(chǎng)結(jié)構(gòu)分析
1、產(chǎn)品市場(chǎng)結(jié)構(gòu)
2、品牌市場(chǎng)結(jié)構(gòu)
3、區(qū)域市場(chǎng)結(jié)構(gòu)
4、渠道市場(chǎng)結(jié)構(gòu)
四、2007年中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)供需監(jiān)測(cè)分析
(一)需求分析
1、產(chǎn)品需求
2、價(jià)格需求
3、渠道需求
4、購(gòu)買(mǎi)需求
(二)供給分析
1、產(chǎn)品供給
2、價(jià)格供給
3、渠道供給
4、促銷(xiāo)供給
(三)市場(chǎng)特征分析
1、產(chǎn)品特征
2、價(jià)格特征
3、渠道特征
4、購(gòu)買(mǎi)特征
五、2007年中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)格局與廠商市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力評(píng)價(jià)
(一)競(jìng)爭(zhēng)格局分析
(二)主力廠商市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力評(píng)價(jià)
1、產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力
2、價(jià)格競(jìng)爭(zhēng)力
3、渠道競(jìng)爭(zhēng)力
4、銷(xiāo)售競(jìng)爭(zhēng)力
5、服務(wù)競(jìng)爭(zhēng)力
6、品牌競(jìng)爭(zhēng)力
六、影響2007-2010年中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)發(fā)展因素
(一)有利因素
(二)不利因素
(三)政策因素
七、2007-2010年中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)趨勢(shì)預(yù)測(cè)
(一)產(chǎn)品發(fā)展趨勢(shì)
(二)價(jià)格變化趨勢(shì)
(三)渠道發(fā)展趨勢(shì)
(四)用戶需求趨勢(shì)
(五)服務(wù)發(fā)展趨勢(shì)
八、2008年集成電路測(cè)試市場(chǎng)發(fā)展前景預(yù)測(cè)
(一)國(guó)際集成電路測(cè)試市場(chǎng)發(fā)展前景預(yù)測(cè)
1、國(guó)際集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)發(fā)展前景
2、2010年國(guó)際集成電路測(cè)試市場(chǎng)的發(fā)展預(yù)測(cè)
3、世界范圍集成電路測(cè)試市場(chǎng)的發(fā)展展望
(二)中國(guó)集成電路測(cè)試市場(chǎng)的發(fā)展前景
1、市場(chǎng)規(guī)模預(yù)測(cè)分析
2、市場(chǎng)結(jié)構(gòu)預(yù)測(cè)分析
(三)我國(guó)集成電路測(cè)試資源配置的前景
(四)集成電路測(cè)試中長(zhǎng)期預(yù)測(cè)
1、2007－2010年經(jīng)濟(jì)增長(zhǎng)與集成電路測(cè)試需求預(yù)測(cè)
2、2007－2010年集成電路測(cè)試行業(yè)總產(chǎn)量預(yù)測(cè)
3、我國(guó)中長(zhǎng)期集成電路測(cè)試市場(chǎng)發(fā)展策略預(yù)測(cè)
九、中國(guó)主要集成電路測(cè)試生產(chǎn)企業(yè)(列舉)
十、國(guó)內(nèi)集成電路測(cè)試主要生產(chǎn)企業(yè)盈利能力比較分析
(一)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)利潤(rùn)總額分析
1、2003-2007年行業(yè)利潤(rùn)總額分析
2、不同規(guī)模企業(yè)利潤(rùn)總額比較分析
3、不同所有制企業(yè)利潤(rùn)總額比較分析
(二)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)銷(xiāo)售毛利率分析
(三)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)銷(xiāo)售利潤(rùn)率分析
(四)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)總資產(chǎn)利潤(rùn)率分析
(五)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)凈資產(chǎn)利潤(rùn)率分析
(六)2003-2007年集成電路測(cè)試行業(yè)產(chǎn)值利稅率分析
十一.2008中國(guó)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)投資分析
(一)投資環(huán)境
1、資源環(huán)境分析
2、市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)分析
3、稅收政策分析
(二)投資機(jī)會(huì)
(三)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)政策優(yōu)勢(shì)
(四)投資風(fēng)險(xiǎn)及對(duì)策分析
(五)投資發(fā)展前景
1、集成電路測(cè)試市場(chǎng)供需發(fā)展趨勢(shì)
2、集成電路測(cè)試未來(lái)發(fā)展展望
十二、集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)投資策略
(一)產(chǎn)品定位策略
1、市場(chǎng)細(xì)分策略
2、目標(biāo)市場(chǎng)的選擇
(二)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)策略
1、追求產(chǎn)品質(zhì)量
2、促進(jìn)產(chǎn)品多元化發(fā)展
(三)渠道銷(xiāo)售策略
1、銷(xiāo)售模式分類
2、市場(chǎng)投資建議
(四)品牌經(jīng)營(yíng)策略
1、不同品牌經(jīng)營(yíng)模式
2、如何切入開(kāi)拓品牌
(五)服務(wù)策略
十三、投資建議
(一)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)市場(chǎng)投資總體評(píng)價(jià)
(二)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)投資指導(dǎo)建議
十四、報(bào)告附件
(一)規(guī)模以上集成電路測(cè)試行業(yè)經(jīng)營(yíng)企業(yè)通訊信息庫(kù)(excel格式)
主要內(nèi)容為：法人單位代碼、法人單位名稱、法定代表人(負(fù)責(zé)人)、行政區(qū)劃代碼、通信地址、區(qū)號(hào)、電話號(hào)碼、傳真號(hào)碼、郵政編碼、電子郵箱、網(wǎng)址、工商登記注冊(cè)號(hào)、編制登記注冊(cè)號(hào)、登記注冊(cè)類型、機(jī)構(gòu)類型……
(二)規(guī)模以上集成電路測(cè)試經(jīng)營(yíng)數(shù)據(jù)庫(kù)(excel格式)
主要內(nèi)容為：主要業(yè)務(wù)活動(dòng)(或主要產(chǎn)品)、行業(yè)代碼、年末從業(yè)人員合計(jì)、全年?duì)I業(yè)收入合計(jì)、資產(chǎn)總計(jì)、工業(yè)總產(chǎn)值、工業(yè)銷(xiāo)售產(chǎn)值、工業(yè)增加值、流動(dòng)資產(chǎn)合計(jì)、固定資產(chǎn)合計(jì)、主營(yíng)業(yè)務(wù)收入、主營(yíng)業(yè)務(wù)成本、主營(yíng)業(yè)務(wù)稅金及附加、其他業(yè)務(wù)收入、其他業(yè)務(wù)利潤(rùn)、財(cái)務(wù)費(fèi)用、營(yíng)業(yè)利潤(rùn)、投資收益、營(yíng)業(yè)外收入、利潤(rùn)總額、虧損總額、利稅總額、應(yīng)交所得稅、廣告費(fèi)、研究開(kāi)發(fā)費(fèi)、經(jīng)營(yíng)活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、經(jīng)營(yíng)活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、投資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、投資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出、籌資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流入、籌資活動(dòng)產(chǎn)生的現(xiàn)金流出……
十五、報(bào)告說(shuō)明
(一)報(bào)告目的
(二)研究范圍
(三)研究區(qū)域
(四)數(shù)據(jù)來(lái)源
(五)研究方法
(六)一般定義
(七)市場(chǎng)定義
(八)市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力指標(biāo)體系
篇3
一、集成測(cè)試的一般定位及范圍
隨著軟件行業(yè)的發(fā)展,軟件系統(tǒng)涵蓋了日常生活、生產(chǎn)的各個(gè)方面,復(fù)雜的軟件系統(tǒng)的測(cè)試保證越來(lái)越成為實(shí)現(xiàn)軟件需求目標(biāo)的重要方面。
軟件測(cè)試根據(jù)測(cè)試介入時(shí)機(jī)和測(cè)試對(duì)象的范圍,一般可分為:單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試。其中,集成測(cè)試是在單元測(cè)試的基礎(chǔ)上,將所有模塊按照設(shè)計(jì)要求組裝成為子系統(tǒng),進(jìn)行集成測(cè)試。實(shí)踐表明,一些模塊雖然能夠單獨(dú)的工作,但并不能保證連接起來(lái)也能正常的工作。 程序在某些局部反映不出來(lái)的問(wèn)題,在全局上很可能暴露出來(lái),影響功能的實(shí)現(xiàn)。圖1為不同開(kāi)發(fā)階段驅(qū)動(dòng)的測(cè)試類型圖。
不同類型的測(cè)試的實(shí)質(zhì)是選取不同的測(cè)試范圍和對(duì)象,對(duì)對(duì)象的屬性 (功能分支及其他屬性)進(jìn)行驗(yàn)證的過(guò)程。好的測(cè)試是針對(duì)測(cè)試目標(biāo)選取一個(gè)較優(yōu)的測(cè)試對(duì)象及范圍的組合,以獲得較高的測(cè)試投入與產(chǎn)出比例,通過(guò)對(duì)測(cè)試目標(biāo)實(shí)現(xiàn)盡量完整的測(cè)試覆蓋度, 達(dá)成測(cè)試目標(biāo)。軟件測(cè)試沒(méi)有絕對(duì)的覆蓋,也不存在無(wú)盡的測(cè)試資源。
傳統(tǒng)的集成測(cè)試,屬于白盒測(cè)試的一種。其主要的問(wèn)題包括如下方面:
1.較大的測(cè)試開(kāi)銷(xiāo):由于集成測(cè)試采用將一個(gè)實(shí)體分解為多個(gè)實(shí)體的方式進(jìn)行,測(cè)試接口的數(shù)量成級(jí)數(shù)增加,開(kāi)銷(xiāo)較大,通常的集成測(cè)試都是選擇性的針對(duì)核心功能模塊進(jìn)行。
2.測(cè)試輸入及構(gòu)建要求較高: 軟件測(cè)試總是基于一定的測(cè)試輸入基礎(chǔ),這里的輸入,主要依賴于開(kāi)發(fā)過(guò)程。由于軟件工程化開(kāi)發(fā)的不同水平,集成測(cè)試往往難以獲得完整的設(shè)計(jì)輸入,同時(shí)由于軟件設(shè)計(jì)成熟度的限制,導(dǎo)致模塊級(jí)設(shè)計(jì)的變更頻繁,這些都加劇了測(cè)試需求輸入的惡劣和不可控。同時(shí)由于集成測(cè)試需要構(gòu)建模塊級(jí)的數(shù)據(jù)環(huán)境,屬于白盒測(cè)試,測(cè)試技能要求,測(cè)試時(shí)間消耗都較大,也是其難以實(shí)現(xiàn)高效應(yīng)用的原因之一。
二、系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試
(一)系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試的特點(diǎn)
為了獲得更好的測(cè)試效益,我們提出一種基于系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)構(gòu)建集成測(cè)試的思路。傳統(tǒng)集成測(cè)試主要以軟件模塊為測(cè)試實(shí)體對(duì)象,將產(chǎn)品系統(tǒng)打開(kāi),基于內(nèi)部接口和模塊級(jí)運(yùn)行環(huán)境進(jìn)行測(cè)試設(shè)計(jì)。系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試從本質(zhì)上與傳統(tǒng)集成測(cè)試基本一致,但是其分析方法,更多強(qiáng)調(diào)與系統(tǒng)運(yùn)行的場(chǎng)景、業(yè)務(wù)行為、事件對(duì)軟件運(yùn)行的影響以及場(chǎng)景異常的構(gòu)建。
(二)系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試的對(duì)象
系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試捕獲的問(wèn)題對(duì)象本質(zhì)是數(shù)據(jù)接口關(guān)系,主要分為3種類型,如下圖所示:
1.外部輸入關(guān)聯(lián)
如圖2,次功能模塊b的輸出是主功能模塊a的輸入。 整個(gè)系統(tǒng)功能自然的形成這種接口關(guān)系。例如:初始化是系統(tǒng)的數(shù)據(jù)準(zhǔn)備、裝載過(guò)程;業(yè)務(wù)功能消費(fèi)這些數(shù)據(jù)。
2.內(nèi)部輸入關(guān)聯(lián)
如圖2中,主功能模塊的輸入條件,除了界面輸入,還有一些內(nèi)部數(shù)據(jù)輸入。這些數(shù)據(jù)輸入可以通過(guò)次功能c來(lái)構(gòu)造。 通過(guò)次功能c的構(gòu)造,能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)功能a更加完整的分支覆蓋。 典型的例子是:業(yè)務(wù)通訊過(guò)程,依賴于其保護(hù)密鑰的更換功能,這里的保護(hù)密鑰就是內(nèi)部輸入關(guān)聯(lián)的數(shù)據(jù)。
3.背景數(shù)據(jù)依賴
這種集成關(guān)系常常是: 基于系統(tǒng)全局的接口,在某種功能分支運(yùn)行下,發(fā)生變化,進(jìn)而影響主功能模塊的運(yùn)行。例如某個(gè)背景數(shù)據(jù)a是主功能的依賴數(shù)據(jù),數(shù)據(jù)a可能因?yàn)槟承┕δ苓\(yùn)行或者某些事件改變。從而影響主功能的運(yùn)行。
例如: 某個(gè)應(yīng)用系統(tǒng)某數(shù)據(jù)的生產(chǎn)任務(wù)已經(jīng)啟動(dòng)了,但一段時(shí)間后該應(yīng)用系統(tǒng)被刪除。則其對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)如果沒(méi)有設(shè)計(jì)回收機(jī)制,就會(huì)形成冗余數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)占據(jù)了空間,但是沒(méi)有被使用。這種情況也可以被理解為一種異常測(cè)試。
集成測(cè)試所捕獲的問(wèn)題主要來(lái)自于上述3種情況,而這些問(wèn)題,常常是最容易出現(xiàn)測(cè)試逃逸的方面。
三、系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試的分析方法
系統(tǒng)級(jí)集成測(cè)試分析依賴于白盒接口分析、黑盒場(chǎng)景分析2方面的有機(jī)結(jié)合,接口分析的目的是分析明確集成測(cè)試的邊界和目標(biāo);而場(chǎng)景分析則幫助我們獲得高效的需求選擇依據(jù),選取最重要的測(cè)試需求。
(一)接口分析
通過(guò)對(duì)系統(tǒng)級(jí)功能核心接口數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,明確集成測(cè)試的實(shí)體范圍及測(cè)試的目標(biāo)分支。
根據(jù)上述2.2節(jié)的分析,集成測(cè)試的本質(zhì)是捕獲模塊內(nèi)部分支上的bug,所以,集成測(cè)試分析首先應(yīng)明確測(cè)試功能或模塊對(duì)象,以及與之存在接口關(guān)系的相關(guān)功能或模塊對(duì)象,形成功能簇。功能簇有2種來(lái)源方式:
1.由軟件概要設(shè)計(jì)文檔,軟件分支流程圖,而導(dǎo)出的數(shù)據(jù)接口關(guān)系。在軟件系統(tǒng)設(shè)計(jì)中,各個(gè)分支所共有的數(shù)據(jù)以及數(shù)據(jù)接口關(guān)系,就是要測(cè)試的目標(biāo)。
2.基于系統(tǒng)業(yè)務(wù)而劃定的一組關(guān)聯(lián)功能,這些共同實(shí)現(xiàn)某種業(yè)務(wù)的功能,通常具有密切的數(shù)據(jù)接口,輸入與消費(fèi)的關(guān)系。
功能簇的選取,應(yīng)針對(duì)每個(gè)重點(diǎn)的核心功能,逐一進(jìn)行分析,形成若干功能簇。這里的核心功能,常常是那些系統(tǒng)中,長(zhǎng)期或者頻繁運(yùn)行的,與核心業(yè)務(wù)密切相關(guān)的功能。如管理系統(tǒng)的管理服務(wù)端,通信系統(tǒng)中的業(yè)務(wù)通訊功能。
(二)場(chǎng)景化分析
通過(guò)接口分析,明確了測(cè)試的目標(biāo)接口;而動(dòng)態(tài)的場(chǎng)景分析,則是有效的選取、過(guò)濾這些接口獲得最優(yōu)測(cè)試覆蓋率的手段。同時(shí)也對(duì)系統(tǒng)級(jí)的主要異常測(cè)試設(shè)計(jì)提供的依據(jù)。
測(cè)試中常常提到分支覆蓋、語(yǔ)句覆蓋,其實(shí)最有效的是場(chǎng)景覆蓋。因其視角最高,也能獲得最好的覆蓋效率。
場(chǎng)景分析的要素包括:業(yè)務(wù)模型、應(yīng)用模式、承載環(huán)境等。是對(duì)于軟件系統(tǒng)完整運(yùn)行環(huán)境的建模和構(gòu)建。
下表列出了典型的加密通信系統(tǒng)的主要業(yè)務(wù)及場(chǎng)景的關(guān)聯(lián)分析表:
四、結(jié)束語(yǔ)
篇4
五個(gè)階段
移動(dòng)設(shè)備的研發(fā)周期可以從廣義上分成五個(gè)階段：設(shè)計(jì)、系統(tǒng)集成與驗(yàn)證、前一致性(preconformance)驗(yàn)證、一致性(conformance)驗(yàn)證、互操作性。每個(gè)階段都有自身的測(cè)試需求，研發(fā)周期中所涉及的每個(gè)設(shè)計(jì)小組都有自己的測(cè)試過(guò)程和首選的測(cè)試方法。
滿足各個(gè)階段測(cè)試需求需要多種測(cè)試設(shè)備，其中主要的測(cè)試儀器包括腳本生成引擎、射頻參數(shù)式測(cè)試儀和堆棧式信號(hào)測(cè)試儀。我們主要關(guān)心系統(tǒng)集成與驗(yàn)證測(cè)試工作中所涉及的這三類測(cè)試。
在系統(tǒng)集成與驗(yàn)證階段，各個(gè)階段的設(shè)計(jì)人員集中在一起對(duì)軟件和硬件進(jìn)行集成。他們需要檢驗(yàn)各個(gè)組成單元的基本功能，驗(yàn)證射頻與模擬器件的功能，檢驗(yàn)設(shè)備在真實(shí)環(huán)境下的工作情況，當(dāng)對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行修改之后還要進(jìn)行回歸測(cè)試(regressiontesting)。在這一階段，在操作網(wǎng)絡(luò)環(huán)境下測(cè)試移動(dòng)部件是非常必要的。
真實(shí)條件下的測(cè)試
為支持移動(dòng)數(shù)據(jù)服務(wù)，嵌入式軟件的數(shù)量大大增加。例如，3G設(shè)備中可能會(huì)包含數(shù)百萬(wàn)行的程序代碼，而原來(lái)的2G設(shè)備中所需的代碼只有幾千行。
為了實(shí)現(xiàn)互聯(lián)網(wǎng)協(xié)議功能，應(yīng)用程序棧是與信號(hào)協(xié)議并行運(yùn)行的。當(dāng)把應(yīng)用集成到設(shè)備之中時(shí)，設(shè)計(jì)者必須確保所有的功能仍然能夠正確實(shí)現(xiàn)。
這是通過(guò)對(duì)部件施加測(cè)試激勵(lì)，測(cè)試諸如丟包率、數(shù)據(jù)吞吐量和延遲等參數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)的。測(cè)試工作必須在盡可能接近真實(shí)的環(huán)境下進(jìn)行，要使用真正的IP數(shù)據(jù)通信。
進(jìn)行激勵(lì)測(cè)試的一種辦法就是在真實(shí)網(wǎng)絡(luò)中進(jìn)行。但是，尋找一個(gè)商用的運(yùn)行網(wǎng)絡(luò)并在各個(gè)測(cè)試階段走出實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)試并不是最可行的方法。設(shè)計(jì)者可能會(huì)受限于網(wǎng)絡(luò)的技術(shù)格式，無(wú)法控制測(cè)試環(huán)境。
另外一種更適合于實(shí)驗(yàn)室測(cè)試的方法是采用一體式測(cè)試裝置，這種測(cè)試裝置同時(shí)具有射頻和協(xié)議分析功能，能夠代替真實(shí)的射頻網(wǎng)絡(luò)，作為一個(gè)基站仿真器來(lái)使用。設(shè)計(jì)者可以監(jiān)測(cè)各個(gè)部件來(lái)回傳輸?shù)男畔ⅲ薷母鞣N網(wǎng)絡(luò)參數(shù)，例如射頻功率、數(shù)據(jù)編碼結(jié)構(gòu)、數(shù)據(jù)速率和時(shí)隙(time slots)數(shù)量等。
安捷倫公司推出的8960無(wú)線通信測(cè)試裝置能夠運(yùn)行預(yù)置調(diào)制格式的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用程序，針對(duì)GSM／GPRS，EDGE、CDMA2000、lxEV-DO、W-CDMA和HSDPA技術(shù)，實(shí)現(xiàn)語(yǔ)音、視頻、IP和通信應(yīng)用的仿真測(cè)試功能。
該裝置所具有的一套射頻測(cè)試功能將參數(shù)化測(cè)量功能和首層性能測(cè)試結(jié)合起來(lái)，能夠針對(duì)預(yù)定的訪問(wèn)信道評(píng)測(cè)無(wú)線設(shè)備的性能。
解決復(fù)雜的性能問(wèn)題
在集成與驗(yàn)證測(cè)試工作的早期，設(shè)計(jì)者往往覺(jué)得記錄協(xié)議交換信息對(duì)于優(yōu)化設(shè)計(jì)或者調(diào)試錯(cuò)誤非常有幫助。協(xié)議記錄工具必須要能夠?qū)崟r(shí)地記錄第1、2、3層的協(xié)議消息。
在設(shè)計(jì)調(diào)試過(guò)程中，測(cè)試工具還應(yīng)該具備用戶預(yù)定的觸發(fā)與過(guò)濾功能，以幫助設(shè)計(jì)者隔離某些特殊的問(wèn)題。兩臺(tái)測(cè)試裝置進(jìn)行同步記錄的功能對(duì)于評(píng)測(cè)Inter-RAT handover性能是非常有用的。
在這一測(cè)試階段，很多細(xì)微的和不是非常細(xì)微的性能問(wèn)題就會(huì)出現(xiàn)。交換(handover)是一種非常復(fù)雜的數(shù)據(jù)調(diào)用，也是一個(gè)常見(jiàn)的問(wèn)題來(lái)源。同時(shí)使用多個(gè)測(cè)試裝置進(jìn)行雙單元(two―cell)仿真是實(shí)現(xiàn)真實(shí)交換測(cè)試的基礎(chǔ)。
隨著3G網(wǎng)絡(luò)數(shù)據(jù)速率的增大，設(shè)計(jì)者還必須解決移動(dòng)設(shè)備失效的問(wèn)題，這種問(wèn)題只會(huì)隨著和數(shù)據(jù)吞吐量的增大而涌現(xiàn)出來(lái)。即使由于大氣干擾而使信號(hào)發(fā)生干擾和衰落，設(shè)計(jì)者都必須搞清楚其產(chǎn)品中所用的微處理器是否能夠處理所有輸入和輸出該設(shè)備的數(shù)據(jù)信息。
當(dāng)做完基本的無(wú)線設(shè)計(jì)功能驗(yàn)證之后，設(shè)計(jì)者還必須確保：當(dāng)把該移動(dòng)設(shè)備接入不斷擴(kuò)容的個(gè)人電腦和操作系統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)中時(shí)，為終端用戶提供的應(yīng)用程序仍然能夠正確工作。在3G蜂窩網(wǎng)絡(luò)中傳輸高速的數(shù)據(jù)將會(huì)給終端用戶的使用帶來(lái)問(wèn)題，因?yàn)榇蠖鄶?shù)PC操作系統(tǒng)無(wú)法處理移動(dòng)網(wǎng)絡(luò)傳送的數(shù)據(jù)。
隨著數(shù)據(jù)速率的增加，這些問(wèn)題將變得更加糟糕。網(wǎng)絡(luò)仿真器和移動(dòng)設(shè)備僅僅是整個(gè)移動(dòng)數(shù)據(jù)系統(tǒng)中的兩個(gè)組件，若想檢測(cè)整個(gè)系統(tǒng)的問(wèn)題就會(huì)給設(shè)計(jì)者提出更大的新挑戰(zhàn)。
8960測(cè)試裝置中的數(shù)據(jù)吞吐率監(jiān)視器能夠?qū)Πl(fā)射器和接收器信道上的無(wú)線和IP數(shù)據(jù)吞吐率進(jìn)行測(cè)量。設(shè)計(jì)者能夠把超過(guò)實(shí)際網(wǎng)絡(luò)性能指標(biāo)的數(shù)據(jù)速率作為激勵(lì)加載給待測(cè)設(shè)備，對(duì)于HSDPA能夠測(cè)試高達(dá)3．6Mb／s的數(shù)據(jù)速率，對(duì)于lxEV-DO能夠測(cè)試2．4Mb／s的速率，同時(shí)還可以模擬某些射頻故障(如圖2所示)。
除了CDMA格式的實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用外，設(shè)計(jì)者還可以在PC上使用安捷倫推出的Baseband Studio功能，實(shí)現(xiàn)信號(hào)衰落條件下的應(yīng)用性能測(cè)試，并監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)吞吐中的故障。這一功能通常需要更昂貴的測(cè)試設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)。
篇5
Abstract：Smoke detector is one of the most common fire detection device in building fire protection facilities. According to the fire protection regulations maintenance units must be detector function test every year, and the third party inspection, a lot of work consumed in the smoke detector test. The author puts forward the idea about the smoke fire detector test function integration, in order to solve the problem of high cost and the detector alarm performance can not be quantified.
Key Words：smoke detectortestintegration
一、前言
隨著國(guó)民經(jīng)濟(jì)的不斷發(fā)展，人民生活水平的提高，國(guó)家及民眾對(duì)于消防安全日益重視，火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)作為最為常用的早期火災(zāi)預(yù)警裝置日益普及，從最新實(shí)施的《火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)范》GB50116-2013就可以看出，國(guó)家對(duì)住宅建筑火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)的設(shè)置提出了明確的要求。感煙火災(zāi)探測(cè)器作為火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)中最為常用的報(bào)警裝置，其功能好壞直接關(guān)系到是否能夠早報(bào)警早處置，正是基于此，《火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)施工及驗(yàn)收規(guī)范》GB50166-2007明確要求每年需對(duì)所有探測(cè)器進(jìn)行功能測(cè)試，另外《消防法》規(guī)定需對(duì)建筑消防設(shè)施每年至少進(jìn)行一次全面檢測(cè)，即第三方消防檢測(cè)機(jī)構(gòu)年檢。
二、傳統(tǒng)測(cè)試方式的弊端
為了檢驗(yàn)感煙探測(cè)器報(bào)警功能的好壞，主要的測(cè)試方法是使用感煙探測(cè)器測(cè)試工具（俗稱煙槍）對(duì)其進(jìn)行流動(dòng)加煙試驗(yàn)。由于感煙探測(cè)器點(diǎn)多面散，操作人員需要扛槍流動(dòng)作業(yè)，再加上點(diǎn)香及煙霧加注過(guò)多后的善后處理等，消耗了維保和檢測(cè)單位的大量時(shí)間和人力、物力投入。
在傳統(tǒng)的加煙測(cè)試過(guò)程中，煙霧的濃度很難控制，煙霧進(jìn)入探測(cè)器內(nèi)部的數(shù)量更是不得而知，這就造成了有些靈敏度高的探測(cè)器幾秒鐘內(nèi)就立刻報(bào)警，而有些靈敏度差的探測(cè)器就需要注煙幾分鐘后才報(bào)警，雖然都有報(bào)警功能但是顯然兩者都存在著一定的問(wèn)題，前者容易受環(huán)境影響產(chǎn)生誤報(bào)警，而后者又不能做到火災(zāi)的早期預(yù)警，關(guān)鍵因素是煙量無(wú)法準(zhǔn)確控制，現(xiàn)場(chǎng)加煙與實(shí)驗(yàn)室的標(biāo)準(zhǔn)煙室存在著很大的差別，這也是感煙探測(cè)器的報(bào)警功能參數(shù)未納入計(jì)量認(rèn)證的原因之一。
另外在一些特殊場(chǎng)所，如中庭、高架倉(cāng)庫(kù)等，點(diǎn)型感煙探測(cè)器安裝高度能夠達(dá)到極限高度12米，線型光束感煙探測(cè)器安裝高度可以達(dá)到20米，煙槍無(wú)法觸及，需登高作業(yè)方可進(jìn)行測(cè)試，十分不便；再如一些危險(xiǎn)場(chǎng)所，如變壓器室、高壓開(kāi)關(guān)室等，平時(shí)人員無(wú)法進(jìn)入，只能在停機(jī)的情況下才能進(jìn)行測(cè)試。還有一些禁煙場(chǎng)所，如煤氣等易燃易爆區(qū)域、高檔賓館酒店等，傳統(tǒng)的加煙測(cè)試方式局限性很大。
三、感煙探測(cè)器測(cè)試功能集成化
造成目前這種現(xiàn)狀的主要原因是探測(cè)器生產(chǎn)廠家設(shè)計(jì)探測(cè)器的初衷只是為了探測(cè)火災(zāi)，而沒(méi)有考慮到日后測(cè)試及維護(hù)的方便快捷。隨著人們對(duì)消防安全的日益重視，以及勞動(dòng)力成本的不斷提升，亟需一種既能夠準(zhǔn)確判斷感煙探測(cè)器報(bào)警性能又便于測(cè)試的手段。
點(diǎn)型感煙火災(zāi)探測(cè)器是消防火災(zāi)自動(dòng)報(bào)警系統(tǒng)中使用最為廣泛的探測(cè)裝置，雖然歷經(jīng)幾十年的發(fā)展，但其探測(cè)原理沒(méi)有發(fā)生實(shí)質(zhì)性的改變，它是通過(guò)探測(cè)區(qū)域煙霧濃度變化影響到光線的變化，當(dāng)煙霧造成的光線減弱到一定的數(shù)值后，再轉(zhuǎn)化為電信號(hào)實(shí)現(xiàn)報(bào)警目的的一種器件。光電探測(cè)器的響應(yīng)閾值，即用減光系數(shù)m值(單位為dB/m)表示的探測(cè)器報(bào)警時(shí)刻的煙濃度，需采用實(shí)驗(yàn)室方法測(cè)量確定，即在光學(xué)密度計(jì)利用光束受煙粒子作用后，光輻射能按指數(shù)規(guī)律衰減的原理測(cè)量煙濃度。減光系數(shù)用下式表示：
m=（10/d)lg(P0/P)，式中：
m―減光系數(shù)，dB/m；
d―試驗(yàn)煙的光學(xué)測(cè)量長(zhǎng)度，m；
P0―無(wú)煙時(shí)接收的輻射功率，W；
P―有煙時(shí)接收的輻射功率，W。
如果在其內(nèi)部集成物理減光測(cè)試裝置和執(zhí)行機(jī)構(gòu)，在測(cè)試時(shí)使減光裝置動(dòng)作，遮擋光源，同樣能夠啟到模擬煙霧的效果，達(dá)到測(cè)試報(bào)警功能的目的。在現(xiàn)場(chǎng)使用了一段時(shí)間后，如果在減光裝置動(dòng)作后不能及時(shí)報(bào)警即可以判定該探測(cè)器的報(bào)警閾值已經(jīng)達(dá)不到出廠時(shí)的最低要求，可以通過(guò)廠家提升靈敏度，或者進(jìn)行清洗或更換，徹底解決了傳統(tǒng)的通過(guò)加煙進(jìn)行探測(cè)器測(cè)試方法中的煙量無(wú)法準(zhǔn)確控制，判斷報(bào)警時(shí)間是否及時(shí)的關(guān)鍵問(wèn)題。由于目前感煙探測(cè)器在生產(chǎn)過(guò)程中可以設(shè)定不同的靈敏度，所以在減光裝置的選擇上應(yīng)該與探測(cè)器最低靈敏度時(shí)的響應(yīng)閾值相匹配，以準(zhǔn)確判斷在最不利的情況下探測(cè)器報(bào)警功能的好壞。
對(duì)于線型光束感煙探測(cè)器以及管路采樣式吸氣感煙火災(zāi)探測(cè)器測(cè)試裝置的集成同樣可以采用以上思路。前者可根據(jù)《建筑消防設(shè)施檢測(cè)技術(shù)規(guī)程》GA503-2004的測(cè)試方法，在發(fā)射器及接收器處的光路上分別安裝減光值為1.0dB和10dB的減光裝置，分別啟到測(cè)試報(bào)警及報(bào)故障的功能。而后者如果安裝高度較高不便測(cè)試的話，可以在最不利的采樣孔處安裝一根空心伴隨管便于將測(cè)試煙霧送入采用孔中。
篇6
關(guān)鍵詞：
測(cè)量系統(tǒng)分析(MSA)；集成電路(IC)測(cè)試；重復(fù)性；再現(xiàn)性
0引言
測(cè)量是給具體事物(實(shí)體或系統(tǒng))賦值得過(guò)程。此過(guò)程中輸入包括人(操作員)、機(jī)(量具或必備的設(shè)備和軟件)、料、法、環(huán)，過(guò)程的輸出即測(cè)量結(jié)果。測(cè)量系統(tǒng)就是由人、機(jī)、法以及測(cè)量對(duì)象構(gòu)成的過(guò)程的整體。在集成電路制程中，IC測(cè)試主要由晶圓測(cè)試(即CP)、封裝成品測(cè)試(即FT)，IC測(cè)試是使用測(cè)試設(shè)備及針對(duì)集成電路制作的測(cè)試程序?qū)A或封裝成品進(jìn)行測(cè)試，確保集成電路滿足IC設(shè)計(jì)的功能及性能要求。因此一個(gè)具有大量變差的測(cè)量系統(tǒng)，會(huì)造成IC測(cè)試所獲得測(cè)量值較電路真實(shí)值出現(xiàn)很大的偏差，在測(cè)試過(guò)程中，使用該測(cè)量系統(tǒng)是不適合的。若缺少對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的有效控制，會(huì)影響到獲得測(cè)量值的準(zhǔn)確性，造成IC測(cè)試的誤判，嚴(yán)重時(shí)會(huì)涉及到IC的大量失效，甚至報(bào)廢。因此，測(cè)量系統(tǒng)分析在IC測(cè)試中的應(yīng)用，是識(shí)別測(cè)量系統(tǒng)是否適合的一個(gè)重要手段，通過(guò)該手段，可確保獲得測(cè)量值的準(zhǔn)確性和精確性。
1測(cè)量系統(tǒng)分析的基本概念
1.1測(cè)量賦值
給具體事物以表示它們之間關(guān)于特殊特性之間的關(guān)系[1]。
1.2測(cè)量過(guò)程
給具體事物(實(shí)體或系統(tǒng))賦值的過(guò)程被定義為測(cè)量過(guò)程[2]。也可以看作一個(gè)制造過(guò)程，這個(gè)過(guò)程的輸入有測(cè)量人員、設(shè)備、樣品、操作方法和測(cè)量環(huán)境，它產(chǎn)生數(shù)據(jù)作為輸出，如圖1所示。
1.3測(cè)量系統(tǒng)
是指用來(lái)對(duì)被測(cè)特性定量測(cè)量或定性評(píng)價(jià)的儀器或量具、標(biāo)準(zhǔn)、操作、方法、夾具、軟件、人員、環(huán)境和假設(shè)的集合；用來(lái)獲得測(cè)量結(jié)果的整個(gè)過(guò)程[1]。測(cè)量系統(tǒng)可分為“計(jì)量型”、“計(jì)數(shù)型”、“破壞性”等類型。測(cè)量后能夠給出具體的測(cè)量數(shù)值的為計(jì)量型測(cè)量系統(tǒng)分析；只能定性的給出測(cè)量結(jié)果的為計(jì)數(shù)型測(cè)量系統(tǒng)分析；對(duì)一些樣本不可重復(fù)測(cè)量的計(jì)量型測(cè)量系統(tǒng)，可以進(jìn)行破壞型測(cè)量系統(tǒng)分析。“計(jì)量型”測(cè)量系統(tǒng)分析通常包括“穩(wěn)定性”、“重復(fù)性”、“再現(xiàn)性”、“偏倚”及“線性”(五性)的分析、評(píng)價(jià)。在測(cè)量系統(tǒng)分析的實(shí)際應(yīng)用中，可同時(shí)進(jìn)行，也可選項(xiàng)進(jìn)行，根據(jù)具體應(yīng)用情況確定。“計(jì)數(shù)型”測(cè)量系統(tǒng)分析通常利用假設(shè)性試驗(yàn)分析方法來(lái)進(jìn)行判定。
1.4重復(fù)性
是用一個(gè)評(píng)價(jià)人使用相同的測(cè)量?jī)x器對(duì)同一零件上的同一特性，進(jìn)行多次測(cè)量所得到的測(cè)量變差；它是設(shè)備本身的固有變差或能力。傳統(tǒng)上將重復(fù)性稱為“評(píng)價(jià)人內(nèi)部”的變異[1]。
1.5再現(xiàn)性
是指測(cè)量的系統(tǒng)之間或條件之間的平均值變差。傳統(tǒng)上將再現(xiàn)性稱為“評(píng)價(jià)人之間”的差異[1]。
1.6量具R&R或GRR
量具的R&R是結(jié)合了重復(fù)性和再現(xiàn)性變差的估計(jì)值。換句話說(shuō)，GRR值等于系統(tǒng)內(nèi)部變差和系統(tǒng)之間變差的和[1]。即：σ2GRR=σ2再現(xiàn)性+σ2重復(fù)性(1)
1.7系統(tǒng)變差
測(cè)量系統(tǒng)變差可分為：能力：短期間的誤差，是由線性、均一性和再現(xiàn)性結(jié)合的誤差量；性能：所有變差來(lái)源于長(zhǎng)期的影響，是長(zhǎng)期讀數(shù)的變化量；不確定度：有關(guān)被測(cè)值的數(shù)值估計(jì)范圍，相信真值包括在此范圍內(nèi)[1]。
2測(cè)量系統(tǒng)分析的介紹
2.1測(cè)量系統(tǒng)變差
測(cè)量系統(tǒng)分析的目的之一是獲得測(cè)量系統(tǒng)與所處環(huán)境相互作用使其產(chǎn)生的測(cè)量變差的類型和結(jié)果的信息[1]。測(cè)量系統(tǒng)變差類型可分成五種類型：偏倚、重復(fù)性、再現(xiàn)性、穩(wěn)定性和線性，其中重復(fù)性、偏倚、穩(wěn)定性和線性屬于量具變差，再現(xiàn)性屬于操作員造成的變差。通常通過(guò)偏倚、線性及穩(wěn)定性來(lái)判斷測(cè)量系統(tǒng)的準(zhǔn)確性，通過(guò)重復(fù)性和再現(xiàn)性來(lái)判斷測(cè)量系統(tǒng)的精確性(即其波動(dòng))。
2.2測(cè)量數(shù)據(jù)特性
測(cè)量系統(tǒng)分析是為了更好的發(fā)現(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)變差，從而通過(guò)對(duì)測(cè)量系統(tǒng)變差的控制來(lái)滿足測(cè)量產(chǎn)品質(zhì)量特性的目的，也控制測(cè)量數(shù)據(jù)的質(zhì)量。測(cè)量數(shù)據(jù)顯現(xiàn)出的4種狀態(tài)，如圖2所示。說(shuō)明：圖2(a)中測(cè)量數(shù)據(jù)分布雖較集中，但偏離中心較大，屬于精確但不準(zhǔn)確測(cè)量數(shù)據(jù)；圖2(b)中測(cè)量數(shù)據(jù)雖基本都在中心內(nèi)，但數(shù)據(jù)分布較離散，屬于準(zhǔn)確但不精確數(shù)據(jù)；圖2(c)中測(cè)量數(shù)據(jù)分布離散，且數(shù)據(jù)基本在中心外，屬于不準(zhǔn)確且不精確數(shù)據(jù)；圖2(d)中測(cè)量數(shù)據(jù)分布集中，且均在中心內(nèi)，屬于既準(zhǔn)確又精確數(shù)據(jù)。圖2(a)、(b)、(c)這3中測(cè)量數(shù)據(jù)，是質(zhì)量"低"的測(cè)量數(shù)據(jù)，圖2(d)的測(cè)量數(shù)據(jù)，是質(zhì)量"高"的測(cè)量數(shù)據(jù)，也是測(cè)量過(guò)程期望獲取的數(shù)據(jù)。
2.3測(cè)量系統(tǒng)分析(MSA)方法分類
測(cè)量系統(tǒng)分析(MSA)方法主要分為三類：計(jì)量型測(cè)量系統(tǒng)分析方法、計(jì)數(shù)型測(cè)量系統(tǒng)分析方法以及破環(huán)型測(cè)量系統(tǒng)分析方法。計(jì)量型測(cè)量系統(tǒng)分析方法主要分為兩類：位置分析、寬度分析。其中位置分析常用的有：偏倚分析、線性分析和穩(wěn)定性分析，寬度分析常用的有：重復(fù)性分析和再現(xiàn)性分析，如圖3所示。計(jì)數(shù)型測(cè)量系統(tǒng)分析方法包括：風(fēng)險(xiǎn)分析法、信號(hào)分析法以及數(shù)據(jù)解析分析法。對(duì)于計(jì)數(shù)型測(cè)量系統(tǒng)，主要采用風(fēng)險(xiǎn)分析法進(jìn)行研究。破壞性測(cè)量系統(tǒng)分析方法包括：偏倚分析、變異分析和穩(wěn)定性分析。在IC測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試所得的測(cè)試參數(shù)數(shù)據(jù)通常為一連串的測(cè)試數(shù)據(jù)，即計(jì)量型數(shù)據(jù)，因此測(cè)量系統(tǒng)分析時(shí)通常采用計(jì)量型測(cè)量系統(tǒng)分析。以下介紹重復(fù)性和再現(xiàn)性分析在IC測(cè)試中的應(yīng)用，通過(guò)重復(fù)性和再現(xiàn)性分析評(píng)價(jià)測(cè)量系統(tǒng)能力。
3重復(fù)性和再現(xiàn)性分析在IC測(cè)試中的應(yīng)用
3.1IC測(cè)試中評(píng)價(jià)測(cè)量系統(tǒng)要求
IC測(cè)試過(guò)程中，評(píng)價(jià)測(cè)量系統(tǒng)時(shí)，需確認(rèn)三個(gè)基本問(wèn)題：
1)測(cè)量系統(tǒng)的分辨能力(在IC測(cè)試中主要指測(cè)試設(shè)備)是否滿足測(cè)試要求，即系統(tǒng)的設(shè)計(jì)性能能否滿足測(cè)試過(guò)程中所需實(shí)現(xiàn)的性能，這個(gè)是系統(tǒng)本身決定；
2)測(cè)量系統(tǒng)在一定時(shí)間內(nèi)是否在統(tǒng)計(jì)上保持一致，即測(cè)量系統(tǒng)是否經(jīng)過(guò)校驗(yàn)，以確保測(cè)量系統(tǒng)狀態(tài)處于穩(wěn)定狀態(tài)；
3)這些統(tǒng)計(jì)性能是否在預(yù)期范圍內(nèi)保持一致，并且用于過(guò)程分析或控制是否合格，即測(cè)量系統(tǒng)分析的結(jié)果是否在可接收范圍內(nèi)。測(cè)量系統(tǒng)分析在評(píng)價(jià)測(cè)量系統(tǒng)中起到很重要的作用。在IC測(cè)試過(guò)程中，造成測(cè)量結(jié)果變差主要是由量具變差以及操作員造成的變差導(dǎo)致，而重復(fù)性分析是分析量具變差，再現(xiàn)性分析是分析操作員造成的變差。因此重復(fù)性和再現(xiàn)性在IC測(cè)試的測(cè)量系統(tǒng)分析中占重要的位置。
3.2重復(fù)性和再現(xiàn)性分析操作過(guò)程
1)測(cè)量樣品的選擇選定標(biāo)準(zhǔn)樣品，至少3只，并對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行編號(hào)，以便測(cè)量時(shí)數(shù)據(jù)能一一對(duì)應(yīng)；
2)選取評(píng)價(jià)人選取若干名(至少2名)操作員作為評(píng)價(jià)人執(zhí)行研究，并指定為評(píng)價(jià)人A、B、C等，評(píng)價(jià)人最好為操作該測(cè)量設(shè)備的操作員，經(jīng)過(guò)測(cè)量設(shè)備的操作培訓(xùn)，避免由于操作員引起很大的測(cè)量誤差；
3)測(cè)量設(shè)備校準(zhǔn)測(cè)量前需對(duì)被測(cè)量分析的設(shè)備進(jìn)行校正，使用標(biāo)準(zhǔn)件對(duì)設(shè)備進(jìn)行校正，校正合格后可進(jìn)行測(cè)量；
4)每個(gè)評(píng)價(jià)人分別對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行重復(fù)測(cè)量(至少2次)，并將測(cè)量數(shù)據(jù)記錄在數(shù)據(jù)采集表中，測(cè)量數(shù)據(jù)記錄時(shí)評(píng)價(jià)人、樣品編號(hào)應(yīng)一一對(duì)應(yīng)；
5)重復(fù)性和再現(xiàn)性研究
(a)重復(fù)性研究
重復(fù)性是研究測(cè)量設(shè)備本身的波動(dòng)，測(cè)量條件(如測(cè)量環(huán)境、測(cè)量地點(diǎn)、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品等)要盡可能統(tǒng)一。首先通過(guò)極差圖(R圖)分析測(cè)量過(guò)程是否受控，并通過(guò)R圖觀察評(píng)價(jià)人之間對(duì)每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)量過(guò)程的一致性。若R圖上由數(shù)據(jù)出現(xiàn)失控現(xiàn)象，應(yīng)對(duì)每一個(gè)輸入數(shù)據(jù)進(jìn)行核對(duì)確認(rèn)，若輸入數(shù)據(jù)正確，需分析失控原因并進(jìn)行針對(duì)性糾正，通常可采取三種糾正方式：忽略超出的點(diǎn)；刪除超出的點(diǎn)以及評(píng)價(jià)人重新測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品。然后計(jì)算重復(fù)性。重復(fù)性計(jì)算公式：EV=R軏×K1(2)其中R軏重復(fù)測(cè)量同一零件的極差的平均值，K1根據(jù)重復(fù)測(cè)量次數(shù)選值。
(b)再現(xiàn)性研究
再現(xiàn)性是研究不同評(píng)價(jià)人在相同的測(cè)量條件(如測(cè)量環(huán)境、測(cè)量設(shè)備、測(cè)量地點(diǎn)等)下測(cè)量同一標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)產(chǎn)生的波動(dòng)。可通過(guò)每個(gè)評(píng)價(jià)人測(cè)量每個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品的平均值進(jìn)行分析，通過(guò)均值控制圖觀察分析。首先計(jì)算出每位評(píng)價(jià)人測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)樣品的總平均值，計(jì)算評(píng)價(jià)人之間的極差R0與標(biāo)準(zhǔn)差σ0，其中該標(biāo)準(zhǔn)差還包含了操作員重復(fù)測(cè)量引起的波動(dòng)，因此需減去重復(fù)性部分，對(duì)該標(biāo)準(zhǔn)差進(jìn)行修正，計(jì)算出的值即測(cè)量系統(tǒng)的再現(xiàn)性。再現(xiàn)性計(jì)算公式：AV=[R0d*2]-[(σe)2(nr)](3)
(c)標(biāo)準(zhǔn)樣品間的波動(dòng)
測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)樣品間總是存在差異的。首先計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)量總平均值的極差，然后計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)樣品間的波動(dòng)PV。PV計(jì)算公式：PV=RP×K3(4)其中RP為標(biāo)準(zhǔn)樣品極差，K3根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)樣品數(shù)量進(jìn)行選值。
(d)測(cè)量過(guò)程
總波動(dòng)測(cè)量過(guò)程輸出總波動(dòng)TV包括測(cè)量過(guò)程的實(shí)際波動(dòng)和測(cè)量系統(tǒng)的波動(dòng)。TV公式：TV2=PV2+EV2＋AV2(5)以上已獲得AV、EV以及PV的值，那么總波動(dòng)TV的值也可得出。
(e)測(cè)量系統(tǒng)能力的評(píng)價(jià)
通過(guò)已經(jīng)計(jì)算出的重復(fù)性EV和再現(xiàn)性AV，可以計(jì)算出測(cè)量系統(tǒng)的波動(dòng)GRR。GRR計(jì)算公式：GRR=EV2＋AV2(6)通過(guò)用測(cè)量系統(tǒng)的波動(dòng)GRR與總波動(dòng)(TV)之比來(lái)度量，即計(jì)算%GRR值。%GRR計(jì)算公式：%GRR=100[GRR/TV](7)根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)能力判別準(zhǔn)則，對(duì)測(cè)量系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)定，判別準(zhǔn)則具體為：%GRR<10%，表明測(cè)量系統(tǒng)能力很好，可正常使用；10%≤%GRR≤30%，依據(jù)設(shè)備的重要性、成本及維修費(fèi)用等因素，決定是否可使用或不可使用；%GRR＞30%，說(shuō)明測(cè)量系統(tǒng)本身波動(dòng)很大，由該測(cè)量系統(tǒng)得出的數(shù)據(jù)是不可靠的，測(cè)量系統(tǒng)必須改進(jìn)。這時(shí)，需通過(guò)對(duì)測(cè)量系統(tǒng)的各種波動(dòng)源，進(jìn)行研究，若重復(fù)性變差本身較小，則說(shuō)明問(wèn)題出現(xiàn)在再現(xiàn)性上，可通過(guò)對(duì)加強(qiáng)對(duì)評(píng)價(jià)人的培訓(xùn)，對(duì)作業(yè)方法的優(yōu)化或提高評(píng)價(jià)人操作的一致性來(lái)減小評(píng)價(jià)人間的波動(dòng)，若采取措施后仍不能滿足要求，或者重復(fù)性變差本身較再現(xiàn)性變差大很多，則需要將該設(shè)備停用做好標(biāo)識(shí)，更換測(cè)量系統(tǒng)能力好的設(shè)備或采購(gòu)新的測(cè)量系統(tǒng)。
4應(yīng)用實(shí)例
使用測(cè)量設(shè)備對(duì)IC進(jìn)行測(cè)試，主要是將流片過(guò)程、封裝過(guò)程中產(chǎn)生的缺陷產(chǎn)品挑選出來(lái)，這些缺陷產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)主要體現(xiàn)為測(cè)試參數(shù)超出規(guī)范界限，判定為產(chǎn)品失效。而一個(gè)產(chǎn)品的測(cè)試需測(cè)試的參數(shù)項(xiàng)很多，在對(duì)測(cè)量設(shè)備進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)分析時(shí)，需先確定出關(guān)鍵參數(shù)也就是對(duì)測(cè)試產(chǎn)品影響很大，客戶重點(diǎn)關(guān)注的參數(shù))作為分析項(xiàng)目，如模擬電路測(cè)試中，部分產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)一些參數(shù)需進(jìn)行燒熔絲測(cè)試，該些參數(shù)一旦經(jīng)過(guò)燒熔絲測(cè)試后，就不可逆，無(wú)法改變測(cè)試結(jié)果，若測(cè)量設(shè)備在測(cè)試該些參數(shù)出現(xiàn)偏差，參數(shù)測(cè)試均值的中心值偏移出允差范圍，直接會(huì)導(dǎo)致大量產(chǎn)品的失效、報(bào)廢。下面以某模擬電路測(cè)量設(shè)備為例，確定頻率參數(shù)FOSC為分析項(xiàng)目，參數(shù)單位為KHZ，對(duì)該分析項(xiàng)目進(jìn)行重復(fù)性和再現(xiàn)性數(shù)據(jù)采集，并進(jìn)行分析。采集的數(shù)據(jù)如表1所示。
(1)重復(fù)性分析和計(jì)算
根據(jù)采集的數(shù)據(jù)，按照第4章中所述的重復(fù)性和再現(xiàn)性的研究方法，先得出極差圖(R圖)，如圖4所示。從圖中可以看出測(cè)量過(guò)程處于受控狀態(tài)，且3個(gè)評(píng)價(jià)人對(duì)樣品的測(cè)量都在受控狀態(tài)，說(shuō)明3個(gè)人的測(cè)量操作較一致，體現(xiàn)了測(cè)量的重復(fù)性。并通過(guò)重復(fù)性公式計(jì)算出EV=0.0003。
(2)再現(xiàn)性分析和計(jì)算
將采集的數(shù)據(jù)按照樣品編號(hào)，在圖中繪制出每個(gè)評(píng)價(jià)人對(duì)每個(gè)樣品測(cè)量的平均值，得出均值圖，如圖5所示。由于在測(cè)量時(shí)測(cè)量環(huán)境、測(cè)量條件以及測(cè)量設(shè)備均一致，因此可以通過(guò)不同評(píng)價(jià)人測(cè)量同一樣品的波動(dòng)來(lái)研究再現(xiàn)性，從均值圖中，可以看出3位評(píng)價(jià)人分別測(cè)量的10個(gè)樣品，每個(gè)樣品均值波動(dòng)最大的波動(dòng)為33HZ，該樣品FOSC參數(shù)的均值允許偏差為±500HZ，測(cè)量波動(dòng)大大小于參數(shù)的均值允差，說(shuō)明具有良好的再現(xiàn)性。并通過(guò)再現(xiàn)性計(jì)算公式，可計(jì)算AV=0.0005。
(3)測(cè)量設(shè)備能力分析
①通過(guò)圖5均值圖分析。通過(guò)對(duì)該樣品電路不同批次的測(cè)試數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析，該樣品的均值圖中控制線以內(nèi)區(qū)域表示測(cè)量的敏感性。若圖中顯示的測(cè)量均值有一半以上(包括一半)落在控制線以外，則表明該測(cè)量系統(tǒng)適合進(jìn)行測(cè)試該IC電路。若落在控制線以外的測(cè)量均值小于一半，則表明該測(cè)量系統(tǒng)缺乏足夠的分辨力，不適合進(jìn)行該IC電路的測(cè)試。從圖中可以看出，3位評(píng)價(jià)人測(cè)試每個(gè)樣品的均值大部分都落在控制線以外，因此該測(cè)量設(shè)備有足夠的分辨力，有足夠能力測(cè)試該IC電路。②通過(guò)樣品鏈圖分析。將所有評(píng)價(jià)人測(cè)量每個(gè)樣品的數(shù)據(jù)，畫(huà)在一張圖上，得到樣品鏈圖，如圖6所示。從圖上可以看出10個(gè)樣品不同評(píng)價(jià)人測(cè)量的變差非常小(在10HZ以內(nèi))，與該樣品所要求的FOSC參數(shù)允許偏差(±500HZ)相比，大大小于該參數(shù)允許偏差，說(shuō)明該測(cè)量設(shè)備能力非常號(hào)，精度完全可以滿足測(cè)試產(chǎn)品的要求。
(4)測(cè)量系統(tǒng)能力評(píng)價(jià)
根據(jù)第4章中內(nèi)容計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)樣品間波動(dòng)PV=0.0078、測(cè)量過(guò)程總波動(dòng)TV=0.0078以及測(cè)量系統(tǒng)波動(dòng)GRR=0.0006，再通過(guò)用測(cè)量系統(tǒng)的波動(dòng)(GRR)與測(cè)量過(guò)程總波動(dòng)(TV)之比即計(jì)算%GRR值，進(jìn)行測(cè)量系統(tǒng)能力的判別。本次分析的測(cè)量設(shè)備，計(jì)算出的%GRR=7.24%。根據(jù)判別規(guī)則%GRR<10%，表明測(cè)量系統(tǒng)能力很好，測(cè)量設(shè)備的變差和人員變差對(duì)產(chǎn)品測(cè)試影響較小，完全滿足產(chǎn)品測(cè)試要求。
5結(jié)束語(yǔ)
IC測(cè)試主要目的是辨別電路的好壞，將不能滿足要求的電路剔除。IC測(cè)試過(guò)程中測(cè)量設(shè)備和人員的變差會(huì)對(duì)辨別結(jié)果有很大的影響，通過(guò)對(duì)重復(fù)性和再現(xiàn)性的研究與分析可以監(jiān)控測(cè)量設(shè)備和人員變差，使之處于受控狀態(tài)，從而保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和精確性。
篇7
1 引言
面向?qū)ο筌浖赜械姆庋b、繼承、多態(tài)和動(dòng)態(tài)綁定等特征產(chǎn)生了傳統(tǒng)語(yǔ)言根本不存在的錯(cuò)誤類型，因此傳統(tǒng)的軟件測(cè)試技術(shù)不能直接應(yīng)用到面向?qū)ο筌浖y(cè)試中來(lái)。面向?qū)ο筌浖y(cè)試相對(duì)于面向?qū)ο筌浖治觥⒃O(shè)計(jì)和編程來(lái)說(shuō)還沒(méi)有引起足夠的重視，尤其是多態(tài)對(duì)面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試的影響還需要進(jìn)一步研究。多態(tài)是面向?qū)ο筌浖赜械奶卣鳎彩歉割悓?duì)象出現(xiàn)的地方都可以用子類對(duì)象進(jìn)行替換的多態(tài)稱為對(duì)象多態(tài)；同一個(gè)消息可以被不同對(duì)象接受而產(chǎn)生不同行為的多態(tài)稱為消息多態(tài)。
測(cè)試順序（Test Order）是面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試研究的一個(gè)重要問(wèn)題。文獻(xiàn)[1-4]提出利用對(duì)象關(guān)系圖（Object-Oriented Graph）研究測(cè)試順序，但是這些文獻(xiàn)都沒(méi)有涉及到多態(tài)對(duì)測(cè)試順序的影響。文獻(xiàn)[5]在對(duì)象關(guān)系圖上增加因消息多態(tài)引起的動(dòng)態(tài)依賴信息，構(gòu)成擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖（Extended Object-Oriented Graph），作為研究測(cè)試順序的測(cè)試模型，但是該文沒(méi)有考慮對(duì)象多態(tài)對(duì)交互測(cè)試的影響以及沒(méi)有給出哪些類之間需要進(jìn)行兩兩交互測(cè)試以及它們之間的測(cè)試順序。本文在文獻(xiàn)[5]的基礎(chǔ)之上，在擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖中增加對(duì)象多態(tài)信息，并設(shè)計(jì)算法計(jì)算哪些類之間需要進(jìn)行交互測(cè)試以及它們之間的測(cè)試順序。
2 擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖
對(duì)象關(guān)系圖在文獻(xiàn)[1]中首次作為面向?qū)ο蠡貧w測(cè)試的測(cè)試模型。程序P的對(duì)象關(guān)系圖是一個(gè)有向圖，其中的結(jié)點(diǎn)表示程序P中的類，有向邊表示程序P中類間的依賴關(guān)系。繼承、聚集和關(guān)聯(lián)關(guān)系是面向?qū)ο竽Ｐ椭腥N最為廣泛使用的類間依賴關(guān)系。繼承意味著基類中定義的特性可以自動(dòng)在所有的子類中定義；聚集意味著一個(gè)對(duì)象是另一個(gè)對(duì)象的一個(gè)組成部分；關(guān)聯(lián)意味著兩個(gè)對(duì)象之間存在著更一般的關(guān)系，A關(guān)聯(lián)B表示A會(huì)存取B中的數(shù)據(jù)成員或A會(huì)向B傳遞消息。
定義2.1 G=(V,L,E)表示邊上加標(biāo)簽的有向圖，其中V={V1,V2,…,Vn}是結(jié)點(diǎn)的有限集合，L={L1,L2,…,Lk}是標(biāo)簽的有限集合，邊集E⊆V×V×L是帶標(biāo)簽的邊的有限集合。
定義2.2 面向?qū)ο蟪绦騊的對(duì)象關(guān)系圖是一個(gè)邊上加標(biāo)簽的有向圖ORG=(V,L,E)，其中集合V中的結(jié)點(diǎn)表示程序P中的類，標(biāo)簽集L={I,Ag,As}中的元素表示邊上的標(biāo)簽集合，邊集E=EI∪EAg∪EAs的定義如下：
定義2.3 EI⊆V×V×L是一個(gè)有向邊的集合，EI中的有向邊反映的是P中類之間的繼承關(guān)系。
定義2.4 EAg⊆V×V×L是一個(gè)有向邊的集合，EAg中的有向邊反映的是P中類之間的聚集關(guān)系。
定義2.5 EAs⊆V×V×L是一個(gè)有向邊的集合，EAs中的有向邊反映的是P中類之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系。
定義2.6 如果一個(gè)類在對(duì)象關(guān)系圖中既沒(méi)有被其它類包含又不是其它類的子類，則稱該類為主類。例如，圖1中類A和類F是主類。
定義2.7 設(shè)D1(X)是類X靜態(tài)依賴的所有類構(gòu)成的集合。
類X靜態(tài)依賴類Y當(dāng)且僅當(dāng)在對(duì)象關(guān)系圖中存在一條從類X到類Y的有向路徑。例如，圖1中的D1(A)={B,C,D,F,G,H}。
定義2.8 設(shè)D2 (X)是類X靜態(tài)和動(dòng)態(tài)依賴的所有類構(gòu)成的集合。
動(dòng)態(tài)依賴關(guān)系可以從靜態(tài)關(guān)系中推導(dǎo)出來(lái)。如果類Y是類X的服務(wù)類，則在程序執(zhí)行的時(shí)候，類X及其所有直接或間接子類動(dòng)態(tài)依賴Y及其所有直接或間接子類。例如，圖1中的D2(A)={B,C,D,F,G,H,F1,F2}。如果在對(duì)象關(guān)系圖中用虛邊表示動(dòng)態(tài)依賴信息，則構(gòu)成的對(duì)象關(guān)系圖稱為擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖。圖2是圖1加上動(dòng)態(tài)依賴信息之后形成的擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖。
3 測(cè)試順序
測(cè)試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試研究的一個(gè)重要問(wèn)題。在面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試階段，構(gòu)造一個(gè)類對(duì)象或類成員函數(shù)的測(cè)試樁的代價(jià)非常昂貴。因此，假如使用已經(jīng)測(cè)試過(guò)的組件去測(cè)試將要被測(cè)試的組件，則可以減少構(gòu)造測(cè)試樁的工作量。這個(gè)策略的基本思想就是首先測(cè)試獨(dú)立的組件，然后根據(jù)依賴關(guān)系測(cè)試有依賴關(guān)系的組件。例如，如果測(cè)試人員首先測(cè)試服務(wù)類，然后再測(cè)試客戶類，則可以減少構(gòu)造測(cè)試樁的工作量。拓?fù)渑判蚩梢杂脕?lái)計(jì)算無(wú)環(huán)對(duì)象關(guān)系圖的測(cè)試順序。例如，圖1的測(cè)試順序?yàn)锽-C-G-H-F-F1-F2 -D-A-E-A1-A2。如果對(duì)象關(guān)系圖有環(huán)，則可以采用某種策略臨時(shí)刪除某些關(guān)聯(lián)邊使之變成無(wú)環(huán)的對(duì)象關(guān)系圖，然后再應(yīng)用拓?fù)渑判蛴?jì)算相應(yīng)的測(cè)試順序。
測(cè)試順序解決的是類的測(cè)試順序問(wèn)題，而沒(méi)有解決哪些類之間需要進(jìn)行兩兩交互測(cè)試以及它們之間的測(cè)試順序。例如，圖2中需要進(jìn)行交互測(cè)試的有AB,AC,AD,FG,FH,DF,AF,A1E,A1B,A2F,A1F,A1F1,A1F2,A2F1,……，其中AD應(yīng)該在DF之后測(cè)試。下面給出計(jì)算需要進(jìn)行兩兩交互測(cè)試的類及其順序的算法。其中，假設(shè)對(duì)象關(guān)系圖中沒(méi)有環(huán)（對(duì)應(yīng)的擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖中可能有環(huán)），并且算法從對(duì)象關(guān)系圖中的主類開(kāi)始遍歷整個(gè)擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖。
步驟1：如果(V,Vi)之間有一條聚集邊，則遞歸處理Vi，遞歸返回時(shí)將(V,Vi)插入到測(cè)試順序隊(duì)列中；
步驟2：如果(V,Vi)之間有一條關(guān)聯(lián)邊，則遞歸處理Vi，遞歸返回時(shí)將(V,Vi)插入到測(cè)試順序隊(duì)列中；
步驟3：如果(V,Vi)之間有一條動(dòng)態(tài)關(guān)聯(lián)邊，則將(V,Vi)插入到測(cè)試順序隊(duì)列中；
步驟4：如果(Vi,V)之間有一條繼承邊，則遞歸處理Vi 。
根據(jù)上述算法可知，如果從圖2中的主類A開(kāi)始遍歷，則得到的兩兩交互測(cè)試及其測(cè)試順序?yàn)锳B-AC-FG-FH-DF-DF1-DF2-AD-AF-AF1-AF2-A1E-A1B -A1F-A1F1-A1F2-A2F-A2F1-A2F2。
4 設(shè)計(jì)交互測(cè)試用例
確定好哪些類之間需要進(jìn)行兩兩交互測(cè)試以及它們之間的測(cè)試順序之后便可以設(shè)計(jì)交互測(cè)試用例。
步驟1：確定每個(gè)類的設(shè)計(jì)狀態(tài)。例如，隊(duì)列有空、非空和滿三種設(shè)計(jì)狀態(tài)；
步驟2：根據(jù)交互對(duì)象的狀態(tài)組合設(shè)計(jì)交互測(cè)試用例；
步驟3：如果某個(gè)交互測(cè)試的測(cè)試用例數(shù)量太大，則可以使用某種啟發(fā)式策略減少測(cè)試用例的設(shè)計(jì)數(shù)量。
5 結(jié)束語(yǔ)
測(cè)試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試的一個(gè)重要問(wèn)題，并給出計(jì)算集成測(cè)試順序的算法以及設(shè)計(jì)測(cè)試用例的策略。本文提出利用擴(kuò)展對(duì)象關(guān)系圖作為測(cè)試模型研究集成測(cè)試問(wèn)題。本文只解決了兩個(gè)類間的交互測(cè)試及其順序問(wèn)題，多個(gè)類間的交互測(cè)試及其順序問(wèn)題還需要進(jìn)一步研究。
參考文獻(xiàn)：
[1] KUNG D C, GAO J, HSIA P, et al. Class firewall, test order, and regression testing of object-oriented programs[J]. Journal of Object-Oriented Programming, 1995, 8(2): 239-244.
[2] TAI K C, DANIELS F J. Test order for inter-class integration testing of object-oriented software[C]. Proceedings of the CompsAC'97-21st International Computer Software and Applications conference, 1997: 602-607.
[3] TRAON Y L, JéRON T, JéZéQUEL J M, et al. Efficient object-oriented integration and regression testing [J]. IEEE Transactions on Reliability, 2000, 49(1):12-25.
篇8
目前，國(guó)內(nèi)外運(yùn)放測(cè)試儀(或者模擬器件測(cè)試系統(tǒng))主要存在以下幾種校準(zhǔn)方案：校準(zhǔn)板法、標(biāo)準(zhǔn)樣片法和標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法。各校準(zhǔn)方案校準(zhǔn)項(xiàng)目、優(yōu)缺點(diǎn)和相關(guān)情況的比較如表1所示。
比較以上三種方案可知，前兩種方法只是校準(zhǔn)儀器內(nèi)部使用的PMU單元、電流源、電壓源等，并不涉及到儀器本身閉環(huán)測(cè)試電路部分，局限性很大，很難保證運(yùn)放測(cè)試儀的集成運(yùn)放器件參數(shù)測(cè)試精度。而標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法直接面向測(cè)試夾具，其校準(zhǔn)方法具有一定可行性，只是在校準(zhǔn)精度、通用性、測(cè)試自動(dòng)化程度等方面需要進(jìn)一步的研究。因此，通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法加以改進(jìn)，對(duì)運(yùn)放測(cè)試儀進(jìn)行校準(zhǔn)，開(kāi)發(fā)出集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置，在參數(shù)精度和校準(zhǔn)范圍上，能滿足國(guó)內(nèi)大多數(shù)運(yùn)放測(cè)試儀，在通用性上，能夠校準(zhǔn)使用“閉環(huán)測(cè)試原理”的儀器。
系統(tǒng)性能要求
本課題的主要任務(wù)是通過(guò)研究國(guó)內(nèi)外運(yùn)放測(cè)試儀的校準(zhǔn)方法，改進(jìn)實(shí)用性較強(qiáng)的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)模擬法，用指標(biāo)更高的參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)校準(zhǔn)運(yùn)放測(cè)試儀，實(shí)現(xiàn)運(yùn)放測(cè)試儀的自動(dòng)化校準(zhǔn)以及校準(zhǔn)原始記錄、校準(zhǔn)證書(shū)的自動(dòng)生成等。
表2為本課題中研制的集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置與市場(chǎng)上典型運(yùn)放測(cè)試儀的技術(shù)指標(biāo)比較情況。從表2可以看出，校準(zhǔn)裝置技術(shù)指標(biāo)可以校準(zhǔn)市場(chǎng)上的典型運(yùn)放測(cè)試儀。
校準(zhǔn)裝置的硬件設(shè)計(jì)方案
校準(zhǔn)方案覆蓋了市場(chǎng)上運(yùn)放測(cè)試儀給出的大部分參數(shù)，其中包括輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等10個(gè)參數(shù)。通過(guò)研究集成運(yùn)放參數(shù)“閉環(huán)測(cè)試原理”可知：有的參數(shù)校準(zhǔn)要用到“閉環(huán)測(cè)試回路”，有的直接接上相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)儀器進(jìn)行測(cè)量即可實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的校準(zhǔn)。對(duì)于用到“閉環(huán)測(cè)試回路”的幾個(gè)參數(shù)而言，主要通過(guò)補(bǔ)償電源裝置和模擬電源裝置來(lái)校準(zhǔn)。運(yùn)放測(cè)試儀總體校準(zhǔn)方案如圖1所示。
1 校準(zhǔn)電路設(shè)計(jì)
輸入失調(diào)電壓V的定義為使輸出電壓為零(或者規(guī)定值)時(shí)，兩輸入端所加的直流補(bǔ)償電壓。集成運(yùn)放可模擬等效為輸入端有一電壓存在的理想集成運(yùn)算放大器，校準(zhǔn)原理如圖2所示。通過(guò)調(diào)節(jié)補(bǔ)償電源裝置給輸入一個(gè)與V。電壓等量相反的電壓V輸入就可等效為V=V1+V=0，則被測(cè)集成運(yùn)放與接口電路等效為一輸入失調(diào)電壓為零的理想運(yùn)算放大器。然后，調(diào)節(jié)模擬電源裝置，給定模擬標(biāo)準(zhǔn)運(yùn)放輸入失調(diào)電壓參數(shù)值。通過(guò)數(shù)字多用表讀數(shù)與被校運(yùn)放測(cè)試儀測(cè)試值比較，計(jì)算出誤差值，完成V參數(shù)校準(zhǔn)。
2 單片機(jī)控制電路設(shè)計(jì)
單片機(jī)采用AT89S51，這是一個(gè)低功耗、高性能CMOS 8位單片機(jī)，片內(nèi)含可反復(fù)擦寫(xiě)1000次的4KB ISP(In-system programmable)Flash ROM。其采用ATMEL公司的高密度、非易失性存儲(chǔ)技術(shù)制造，兼容標(biāo)準(zhǔn)MCS-5 1指令系統(tǒng)及80C51引腳結(jié)構(gòu)，集成了通用8位中央處理器和ISP Flash存儲(chǔ)單元。
本設(shè)計(jì)中，采用單片機(jī)控制信號(hào)繼電器來(lái)實(shí)現(xiàn)電路測(cè)試狀態(tài)轉(zhuǎn)換，信號(hào)繼電器選用的是HKE公司的HRS2H-S-DC5V，能夠快速完成測(cè)試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換，只需單片機(jī)5V供電電源即可，便于完成參數(shù)的校準(zhǔn)。此外，繼電器跳變由PNP三極管$8550來(lái)驅(qū)動(dòng)完成。
3 液晶顯示電路設(shè)計(jì)
智能彩色液晶顯示器VK56B是上海廣電集團(tuán)北京分公司的產(chǎn)品，具有體積小、功耗低、無(wú)輔射、壽命長(zhǎng)、超薄、防振及防爆等特點(diǎn)。該LCD采用工業(yè)級(jí)的CPU，機(jī)內(nèi)配置有二級(jí)字庫(kù)，可通過(guò)串口或三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口接收控制命令數(shù)據(jù)，并自行對(duì)接收的命令和數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，以實(shí)時(shí)顯示用戶所要顯示的各種曲線、圖形和中西文字體。AT89S5 1與智能化液晶VK56B的接口電路如圖3所示。單片機(jī)與LED采用并行通信設(shè)計(jì)，LCD自身具有一個(gè)三態(tài)數(shù)據(jù)總線并口(并口為CMOS電平)，可以同主機(jī)進(jìn)行通信。它外部有12條線同單片機(jī)相連，即DO-D7、WRCS、BUSY、INT和GND。其中，WRCS為片選信號(hào)和寫(xiě)信號(hào)的邏輯或非，上升沿有效，BUSY信號(hào)為高(CMOS電平)表示忙，INT為中斷申請(qǐng)信號(hào)，低電平有效。
集成運(yùn)放參數(shù)測(cè)試儀校準(zhǔn)裝置軟件設(shè)計(jì)
軟件部分包括上位機(jī)軟件和下位機(jī)軟件設(shè)計(jì)。上位機(jī)軟件完成PC與單片機(jī)的通信以及校準(zhǔn)數(shù)據(jù)處理等工作；下位機(jī)軟件即單片機(jī)源程序。本設(shè)計(jì)使用Keil C完成測(cè)試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換、與上位機(jī)串行通信以及測(cè)試參數(shù)的實(shí)時(shí)顯示等。
1 上位機(jī)軟件設(shè)計(jì)
上位機(jī)軟件主要分為三部分：參數(shù)設(shè)置部分主要完成被校運(yùn)放測(cè)試儀信息錄入，校準(zhǔn)部分完成各參數(shù)的校準(zhǔn)，數(shù)據(jù)處理部分完成校準(zhǔn)證書(shū)及原始記錄的自動(dòng)化報(bào)表。上位機(jī)軟件主對(duì)話框如圖4所示。“參數(shù)設(shè)置”部分主要完成被校運(yùn)放測(cè)試儀的資料錄入；“校準(zhǔn)”部分主要通過(guò)下位機(jī)配合完成輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流等10個(gè)參數(shù)的校準(zhǔn)過(guò)程；“生成校準(zhǔn)證書(shū)”、“生成原始記錄”、“預(yù)覽校準(zhǔn)證書(shū)”、“預(yù)覽原始記錄”主要實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)的自動(dòng)化處理。
2 下位機(jī)軟件設(shè)計(jì)
下位機(jī)軟件主要通過(guò)Keil C進(jìn)行編寫(xiě)，通過(guò)下位機(jī)軟件完成校準(zhǔn)參數(shù)的動(dòng)態(tài)顯示以及測(cè)試狀態(tài)的轉(zhuǎn)換等。其包括兩個(gè)部分，一部分是ST7920液晶驅(qū)動(dòng)程序，另外一部分是單片機(jī)串口通信程序。這里簡(jiǎn)要介紹一下VK56B液晶驅(qū)動(dòng)程序的編寫(xiě)。圖5是LCD的時(shí)序圖。其中，TW為WRCS信號(hào)的脈沖寬度，TSU為數(shù)據(jù)建立時(shí)間，TH為數(shù)據(jù)保持時(shí)間。這些參數(shù)的具體要求為：TW不小于16ns，TSU不小于12ns，T大于0ns，TH不小于5ns，TI不小于2us。
校準(zhǔn)裝開(kāi)發(fā)過(guò)程中需要注意的一些問(wèn)題
接口電路的器件由高分辨率、高穩(wěn)定、低紋波系數(shù)電源供電，接口電路的器件偏置電源采用電池供電。
校準(zhǔn)接口電路單元中的標(biāo)準(zhǔn)電阻采用溫度系數(shù)小且準(zhǔn)確度優(yōu)于0.02％的標(biāo)準(zhǔn)電阻，然后再經(jīng)加電老化進(jìn)行篩選。
校準(zhǔn)接口電路單元的輔助電路和補(bǔ)償網(wǎng)絡(luò)的制作關(guān)鍵是不能引入會(huì)對(duì)被校儀器產(chǎn)生噪聲，自激振蕩等的影響量。在電路板制作中，注意布線、元件排序、良好接地以及箱體的電磁屏蔽。
為保證標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)不確定度，將購(gòu)置國(guó)外不同型號(hào)符合要求的器件進(jìn)行嚴(yán)格篩選作為驗(yàn)證用標(biāo)準(zhǔn)樣片，并利用標(biāo)準(zhǔn)樣片與國(guó)內(nèi)性能和穩(wěn)定性好的進(jìn)口、國(guó)產(chǎn)測(cè)量(器具)系統(tǒng)進(jìn)行比對(duì)驗(yàn)證。
測(cè)試用輔助樣管，一定要滿足表的指標(biāo)規(guī)定(選用表3中輸入失調(diào)電壓、輸入失調(diào)電流、輸入偏置電流等參數(shù)允許值的輔助樣片校準(zhǔn)被檢運(yùn)放測(cè)試儀)，否則將造成測(cè)量結(jié)果的不準(zhǔn)確。
篇9
2 電傳操縱系統(tǒng)測(cè)試技術(shù)研究
2.1與傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)在測(cè)試上的區(qū)別
在測(cè)試上，電傳操縱系統(tǒng)與傳統(tǒng)系統(tǒng)主要存在如下區(qū)別：傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)的測(cè)試重點(diǎn)，主要是檢查系統(tǒng)的間歇，調(diào)整桿舵的傳動(dòng)比；對(duì)于帶自動(dòng)駕駛儀的傳統(tǒng)操縱系統(tǒng)，還要檢要傳感器到舵面的傳動(dòng)比；電傳操縱系統(tǒng)一般不直接檢查傳動(dòng)比，而是檢查各傳感器傳給飛控計(jì)算機(jī)的精度，以及舵機(jī)執(zhí)行飛控計(jì)算機(jī)指令的精度；電傳操縱系統(tǒng)需進(jìn)行各種故障功能的檢查與測(cè)試；電傳操縱系統(tǒng)可以通過(guò)飛行測(cè)試接口，讀取（采集）系統(tǒng)的工作狀態(tài)。
2.2 試驗(yàn)設(shè)計(jì)基本思路
通過(guò)上述的分析，電傳操縱系統(tǒng)內(nèi)場(chǎng)集成試驗(yàn)設(shè)計(jì)的基本思路為：試驗(yàn)應(yīng)盡量覆蓋技術(shù)規(guī)范或通電技術(shù)條件中常溫下的技術(shù)要求；對(duì)影響被試成品的壽命的測(cè)試項(xiàng)目，在生產(chǎn)試驗(yàn)階段應(yīng)略去；試驗(yàn)驗(yàn)內(nèi)容的確定，應(yīng)兼顧生產(chǎn)進(jìn)度和設(shè)備投入；配備的試驗(yàn)設(shè)備和測(cè)試系統(tǒng)的功能應(yīng)能覆蓋選定的測(cè)試科目。
2.3 電傳操縱系統(tǒng)內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試的重難點(diǎn)及主要困難
電傳操縱系統(tǒng)在內(nèi)場(chǎng)進(jìn)行集成測(cè)試時(shí)，主要有以下幾個(gè)測(cè)試重難點(diǎn)。
2.3.1 系統(tǒng)余度管理測(cè)試。在余度管理的測(cè)試方法設(shè)計(jì)上，基本分為模塊測(cè)試與程序驗(yàn)證、程序測(cè)試、系統(tǒng)確定和飛行測(cè)試四個(gè)階段。對(duì)于在總裝裝機(jī)前階段的驗(yàn)證主要是在半實(shí)物半物理模擬試驗(yàn)平臺(tái)上進(jìn)行的系統(tǒng)確認(rèn)。在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，測(cè)試路徑的選擇很重要，這就需要在進(jìn)行系統(tǒng)試驗(yàn)的過(guò)程中，有目的對(duì)盡可能多的邏輯通路組合進(jìn)行檢查。
2.3.2 控制律測(cè)試。電傳操縱系統(tǒng)的控制律直接關(guān)系到飛行安全。在內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試中，可通過(guò)FTI設(shè)備控制、監(jiān)控飛控計(jì)算機(jī)的運(yùn)行，實(shí)現(xiàn)構(gòu)型定義、程序加載、存儲(chǔ)器驗(yàn)證、宏執(zhí)行、斷點(diǎn)定義等功能，完成對(duì)飛行控制計(jì)算機(jī)控制律的測(cè)試。這種測(cè)試方式的優(yōu)點(diǎn)在于可以靈活的選擇起飛、巡航、著陸各階段各狀態(tài)點(diǎn)的控制律測(cè)試，測(cè)試點(diǎn)的選擇可根據(jù)系統(tǒng)可靠性的提高逐步減少。
2.3.3系統(tǒng)配套不全時(shí)的測(cè)試。受生產(chǎn)條件影響，飛行控制系統(tǒng)經(jīng)常出現(xiàn)配套不全的狀態(tài)，若待配套齊全后再進(jìn)行內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試，會(huì)嚴(yán)重影響飛機(jī)交付周期。針對(duì)此類實(shí)際問(wèn)題，提出以下解決方案：對(duì)于系統(tǒng)內(nèi)部的主要傳感器、作動(dòng)器和控制板等部件建立仿真模型，可靈活進(jìn)行實(shí)物與仿真模型的切換，以滿足缺件情況下的測(cè)試要求。同時(shí)，多模型的構(gòu)建對(duì)于余度管理測(cè)試及故障地面復(fù)現(xiàn)提供了更便捷的試驗(yàn)條件。
2.3.4大部件成品的安裝。電傳飛控系統(tǒng)內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試環(huán)境中存在數(shù)量巨大的液壓管路和作動(dòng)器，因此在系統(tǒng)試驗(yàn)室建設(shè)時(shí)需考慮設(shè)計(jì)合理的工裝工具以提高安裝可靠性及工作效率。
3電傳飛控系統(tǒng)內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試環(huán)境的構(gòu)建
基于以上對(duì)電傳飛控系統(tǒng)的原理及測(cè)試技術(shù)的研究，若想構(gòu)建一套完備的測(cè)試平臺(tái)，應(yīng)至少包含以下幾大部分。
3.1電傳系統(tǒng)綜合試驗(yàn)器。為整個(gè)系統(tǒng)提供供電、配套的硬件平臺(tái)，提供狀態(tài)指示和告警裝置，提供人機(jī)交互接口，可完成飛行控制系統(tǒng)的開(kāi)、閉環(huán)試驗(yàn)，可對(duì)輸入輸出飛控系統(tǒng)計(jì)算機(jī)的信號(hào)設(shè)置斷連點(diǎn)和檢測(cè)端；顯示飛行控制系統(tǒng)得各種工作狀態(tài)、故障狀態(tài)；飛行控制系統(tǒng)設(shè)置激勵(lì)注入和反饋采集端。
3.2綜合飛行測(cè)試系統(tǒng)。實(shí)現(xiàn)測(cè)試設(shè)備與電傳飛行控制計(jì)算機(jī)的通訊，獲取電傳飛行控制系統(tǒng)各設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)、各信號(hào)的狀態(tài)，以及系統(tǒng)運(yùn)行參數(shù)等，按照電傳飛行控制系統(tǒng)參數(shù)、狀態(tài)的定義，對(duì)上述狀態(tài)信息和參數(shù)進(jìn)行解析。
3.3仿真和監(jiān)控設(shè)備。可提供各類傳感器和檢測(cè)裝置仿真、航電系統(tǒng)信號(hào)仿真、非航電系統(tǒng)信號(hào)仿真等各種仿真信號(hào)，實(shí)現(xiàn)與飛行控制系統(tǒng)的信號(hào)傳輸與通訊；監(jiān)控并測(cè)試飛行控制系統(tǒng)內(nèi)部及與其他分系統(tǒng)之間的各種通訊信號(hào)的正確性。
3.4飛行控制系統(tǒng)操縱裝置。飛行控制系統(tǒng)操縱裝置采用虛擬仿真或物理模擬的形式，實(shí)現(xiàn)操縱系統(tǒng)的仿真，為電傳飛行控制系統(tǒng)提供指令輸入。
3.5飛行控制系統(tǒng)測(cè)試激勵(lì)設(shè)備。可對(duì)飛行控制系統(tǒng)提供信號(hào)源，并為加速度計(jì)、速率陀螺等提供激勵(lì)輸入。
3.6故障注入單元。可實(shí)現(xiàn)飛行控制系統(tǒng)計(jì)算機(jī)、傳感器、作動(dòng)器等成品的故障模擬和注入，檢查飛行控制系統(tǒng)的故障報(bào)警功能。
3.7飛行仿真系統(tǒng)。在飛行仿真系統(tǒng)的驅(qū)動(dòng)下，可完成飛機(jī)相關(guān)狀態(tài)的仿真，形成完整的飛機(jī)閉環(huán)環(huán)境。
3.8地面電源系統(tǒng)
3.9地面液壓系統(tǒng)
結(jié)語(yǔ)
本文針對(duì)電傳操縱系統(tǒng)的內(nèi)場(chǎng)集成測(cè)試提出了一些思路與想法，具體實(shí)施測(cè)試環(huán)境設(shè)計(jì)與建設(shè)時(shí)可根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行相應(yīng)調(diào)整，如可根據(jù)實(shí)際參加集成試驗(yàn)的試驗(yàn)件種類增減仿真監(jiān)控設(shè)備的種類和數(shù)量等，希望可供實(shí)際工作參考。
參考文獻(xiàn)
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近些年來(lái)，微電子技術(shù)的集成度每過(guò)一年半就會(huì)翻一番，前后30年的時(shí)間里其尺寸縮小了近1000倍，而性能增強(qiáng)了1萬(wàn)倍。目前，歐美發(fā)達(dá)國(guó)家的IC 產(chǎn)業(yè)已經(jīng)非常專業(yè)，使設(shè)計(jì)、制造、封裝以及測(cè)試形成了共同發(fā)展的情形。因?yàn)闇y(cè)試集成電路可以作為設(shè)計(jì)、制造以及封裝的補(bǔ)充，使其得到了迅速發(fā)展[1]。
我國(guó)經(jīng)濟(jì)處于穩(wěn)定增長(zhǎng)中。目前，全球半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)都在重點(diǎn)關(guān)注我國(guó)的集成電路產(chǎn)業(yè)，因?yàn)槲覈?guó)存在著龐大市場(chǎng)、廉價(jià)勞動(dòng)力以及非常優(yōu)越的政策支持等，因此，我國(guó)的集成電路產(chǎn)業(yè)在近幾年有了迅速的發(fā)展。而計(jì)算機(jī)、通信以及電子類技術(shù)也被集成電路產(chǎn)業(yè)帶動(dòng)發(fā)展，而廣泛地使用互聯(lián)網(wǎng)也產(chǎn)生了很多新興產(chǎn)業(yè)。與此同時(shí)，對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的服務(wù)業(yè)也得到了很大發(fā)展。現(xiàn)如今，集成電路在我國(guó)有世界第二大市場(chǎng)，但是國(guó)內(nèi)的自給率低于25%，特別是在計(jì)算機(jī)CPU上，國(guó)內(nèi)技術(shù)與歐美發(fā)達(dá)國(guó)家還存在較大的差距。
微電子技術(shù)的發(fā)展已經(jīng)邁進(jìn)納米與SoC（系統(tǒng)級(jí)芯片）時(shí)期，而CPU時(shí)鐘也已進(jìn)入GHz，在發(fā)展高端的集成電路產(chǎn)業(yè)上，我國(guó)還需要繼續(xù)努力，與發(fā)達(dá)國(guó)家縮小差距。尤其與集成電路測(cè)試相關(guān)的技術(shù)一直是國(guó)內(nèi)發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的薄弱點(diǎn)，因此，必須逐步提升集成電路的測(cè)試能力。
2我國(guó)集成電路測(cè)試技術(shù)能力現(xiàn)狀
上世紀(jì)七十年代，我國(guó)開(kāi)始系統(tǒng)地研發(fā)集成電路的測(cè)試技術(shù)。經(jīng)過(guò)40年的實(shí)際，我國(guó)的集成電路已經(jīng)從開(kāi)發(fā)硬件和軟件發(fā)展到系統(tǒng)集成，從仿制他國(guó)變成了獨(dú)立研發(fā)。伴隨著集成電路產(chǎn)業(yè)在我國(guó)飛速發(fā)展，與之相關(guān)的檢測(cè)技術(shù)與服務(wù)也發(fā)揮著越來(lái)越大的作用，公共測(cè)試的也有了更大的需求，國(guó)內(nèi)出現(xiàn)了一大批專業(yè)芯片測(cè)試公司進(jìn)行封裝測(cè)試板塊。而集成電路的測(cè)試產(chǎn)業(yè)在一定程度上補(bǔ)充了設(shè)計(jì)、制造以及封裝，使這些產(chǎn)業(yè)得到飛速發(fā)展。
但是，因?yàn)镮C芯片的應(yīng)用技術(shù)需要越來(lái)越高的要求與性能，所以必須提高測(cè)試芯片的要求。對(duì)于國(guó)內(nèi)剛步入正軌的半導(dǎo)體行業(yè)來(lái)說(shuō)，其測(cè)試能力與IC設(shè)計(jì)、制造和封裝相比較是很薄弱的一個(gè)環(huán)節(jié)。尤其是產(chǎn)品已經(jīng)邁進(jìn)性能較高的CPU和DSP 時(shí)代，而高性能的CPU和DSP產(chǎn)品的發(fā)展速度遠(yuǎn)高于其他各類IC產(chǎn)品。相比較于設(shè)計(jì)行業(yè)的飛速發(fā)展，國(guó)內(nèi)的測(cè)試業(yè)的非常落后，不但遠(yuǎn)遠(yuǎn)跟不上發(fā)達(dá)國(guó)家的步伐，也不能完全滿足國(guó)內(nèi)集成電路發(fā)展的需求，從根本上制約著我國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，缺少可以獨(dú)立完成專業(yè)測(cè)試的公司，不能完全滿足國(guó)內(nèi)IC設(shè)計(jì)公司的分析驗(yàn)證與測(cè)試需要，已經(jīng)是我國(guó)發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)的瓶頸。盡管有很多外企在我國(guó)設(shè)置了測(cè)試機(jī)構(gòu)，但是他們中的大部分都不會(huì)提供對(duì)外測(cè)試的服務(wù)，即便提供服務(wù)，也極少對(duì)小批量的高端產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)測(cè)試和驗(yàn)證。目前國(guó)內(nèi)對(duì)于一些高端技術(shù)的集成電路產(chǎn)品的測(cè)試通常是到國(guó)外進(jìn)行。而對(duì)于IC發(fā)展，不僅僅對(duì)其測(cè)試設(shè)備有著新要求，測(cè)試技術(shù)人員也必須有較高的素質(zhì)。將硬件和軟件進(jìn)行有機(jī)結(jié)合，完善管理制度，才可以保證測(cè)試IC的質(zhì)量，從而使整機(jī)系統(tǒng)的可靠性得到保障[2]。因此，必須加快建設(shè)國(guó)內(nèi)獨(dú)立的專業(yè)化集成電路測(cè)試公司，逐步在社會(huì)中展開(kāi)測(cè)試芯片的工作，能夠大量減少測(cè)試時(shí)間，增強(qiáng)測(cè)試效果，最終使企業(yè)減少測(cè)試花銷(xiāo)，從根本上解決我國(guó)測(cè)試能力現(xiàn)存的問(wèn)題，才能夠加強(qiáng)集成電路設(shè)計(jì)和制造能力，從而使國(guó)內(nèi)的集成電路產(chǎn)業(yè)得到發(fā)展。
3我國(guó)集成電路測(cè)試的發(fā)展策略
伴隨著不斷壯大的IC 設(shè)計(jì)公司，關(guān)于集成電路產(chǎn)業(yè)的分工愈發(fā)精細(xì)，建立一個(gè)有著強(qiáng)大公信力的中立測(cè)試機(jī)構(gòu)進(jìn)行專業(yè)化的服務(wù)測(cè)試，是國(guó)內(nèi)市場(chǎng)發(fā)展的最終趨勢(shì)與要求。因此，系統(tǒng)地規(guī)劃和研究集成電路測(cè)試業(yè)的策略，對(duì)設(shè)計(jì)、制造與封裝進(jìn)行強(qiáng)有力的技術(shù)支撐，必將使集成電路產(chǎn)業(yè)得到飛速發(fā)展。以下是使我國(guó)集成電路測(cè)試產(chǎn)業(yè)得到進(jìn)一步發(fā)展的建議：
3.1發(fā)展低成本測(cè)試技術(shù)
目前，我國(guó)的高端IC 產(chǎn)品還沒(méi)有占據(jù)很高的比例，市場(chǎng)主要還是被低檔與民用的消費(fèi)類產(chǎn)品占據(jù)，例如MP3 IC、音視頻處理IC、電源管理IC以及功率IC等，其使用的芯片售價(jià)本來(lái)就比較低，所以沒(méi)有能力承受非常昂貴的測(cè)試費(fèi)，因此企業(yè)需要比較低成本的測(cè)試。這就從根本上決定國(guó)內(nèi)使用的IC 測(cè)試設(shè)備還不具有很高的檔次，所以，選擇測(cè)試系統(tǒng)時(shí)主要應(yīng)該注重經(jīng)濟(jì)實(shí)惠以及有合適技術(shù)指標(biāo)的機(jī)型。
3.2研發(fā)高端測(cè)試技術(shù)
伴隨著半導(dǎo)體工藝的迅速發(fā)展，IC產(chǎn)品中的SoC占據(jù)了很大的比重，產(chǎn)值也越來(lái)越多。但是SoC在產(chǎn)業(yè)化以前需要通過(guò)測(cè)試。所以，快速發(fā)展的SoC 市場(chǎng)給其相關(guān)測(cè)試帶來(lái)了非常大的市場(chǎng)需要。在進(jìn)入SoC時(shí)代之后，測(cè)試行業(yè)同時(shí)面臨著挑戰(zhàn)和機(jī)遇。SoC的測(cè)試需要耗費(fèi)大量的時(shí)間，必須生產(chǎn)很多測(cè)試圖形與矢量，還必須具有足夠大的故障覆蓋率。以后，SoC會(huì)逐漸變成設(shè)計(jì)集成電路主要趨勢(shì)。為了良好地適應(yīng)IC 設(shè)計(jì)的發(fā)展，對(duì)于測(cè)試高端芯片技術(shù)也必須進(jìn)行儲(chǔ)備，測(cè)試集成電路的高端技術(shù)的研究應(yīng)該快于IC設(shè)計(jì)技術(shù)的發(fā)展[3]。
4結(jié)束語(yǔ)
我國(guó)作為世界第二大生產(chǎn)集成電路的國(guó)家，目前測(cè)試集成電路的技術(shù)還比較落后，比較缺乏設(shè)計(jì)高水平測(cè)試集成電路裝備的能力。對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試是使一個(gè)國(guó)家良好發(fā)展集成電路產(chǎn)業(yè)不可或缺的條件。集成電路企業(yè)需要不斷地增強(qiáng)測(cè)試技術(shù)的消化、吸收以及創(chuàng)新，政府也需要發(fā)揮自身的導(dǎo)向性，為集成電路企業(yè)設(shè)計(jì)和建立服務(wù)性的測(cè)試平臺(tái)。
參考文獻(xiàn)：
篇11
Analysis of IC test principle and vector generation method
集成電路測(cè)試（IC測(cè)試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區(qū)分開(kāi)，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著集成電路的飛速發(fā)展，其規(guī)模越來(lái)越大，對(duì)電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測(cè)試方法也變得越來(lái)越困難。因此，研究和發(fā)展IC測(cè)試，有著重要的意義。而測(cè)試向量作為IC測(cè)試中的重要部分，研究其生成方法也日漸重要。
1 IC測(cè)試
1.1 IC測(cè)試原理
IC測(cè)試是指依據(jù)被測(cè)器件（DUT）特點(diǎn)和功能，給DUT提供測(cè)試激勵(lì)（X），通過(guò)測(cè)量DUT輸出響應(yīng)（Y）與期望輸出做比較，從而判斷DUT是否符合格。圖1所示為IC測(cè)試的基本原理模型。
根據(jù)器件類型，IC測(cè)試可以分為數(shù)字電路測(cè)試、模擬電路測(cè)試和混合電路測(cè)試。數(shù)字電路測(cè)試是IC測(cè)試的基礎(chǔ)，除少數(shù)純模擬IC如運(yùn)算放大器、電壓比較器、模擬開(kāi)關(guān)等之外，現(xiàn)代電子系統(tǒng)中使用的大部分IC都包含有數(shù)字信號(hào)。
數(shù)字IC測(cè)試一般有直流測(cè)試、交流測(cè)試和功能測(cè)試。
1.2 功能測(cè)試
功能測(cè)試用于驗(yàn)證IC是否能完成設(shè)計(jì)所預(yù)期的工作或功能。功能測(cè)試是數(shù)字電路測(cè)試的根本，它模擬IC的實(shí)際工作狀態(tài)，輸入一系列有序或隨機(jī)組合的測(cè)試圖形，以電路規(guī)定的速率作用于被測(cè)器件，再在電路輸出端檢測(cè)輸出信號(hào)是否與預(yù)期圖形數(shù)據(jù)相符，以此判別電路功能是否正常。其關(guān)注的重點(diǎn)是圖形產(chǎn)生的速率、邊沿定時(shí)控制、輸入/輸出控制及屏蔽選擇等[1]。
功能測(cè)試分靜態(tài)功能測(cè)試和動(dòng)態(tài)功能測(cè)試。靜態(tài)功能測(cè)試一般是按真值表的方法，發(fā)現(xiàn)固定型（Stuck?at）故障[2]。動(dòng)態(tài)功能測(cè)試則以接近電路工作頻率的速度進(jìn)行測(cè)試，其目的是在接近或高于器件實(shí)際工作頻率的情況下，驗(yàn)證器件的功能和性能。
功能測(cè)試一般在ATE（Automatic Test Equipment）上進(jìn)行，ATE測(cè)試可以根據(jù)器件在設(shè)計(jì)階段的模擬仿真波形，提供具有復(fù)雜時(shí)序的測(cè)試激勵(lì)，并對(duì)器件的輸出進(jìn)行實(shí)時(shí)的采樣、比較和判斷。
1.3 交流參數(shù)測(cè)試
交流（AC）參數(shù)測(cè)試是以時(shí)間為單位驗(yàn)證與時(shí)間相關(guān)的參數(shù)，實(shí)際上是對(duì)電路工作時(shí)的時(shí)間關(guān)系進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量諸如工作頻率、輸入信號(hào)輸出信號(hào)隨時(shí)間的變化關(guān)系等。常見(jiàn)的測(cè)量參數(shù)有上升和下降時(shí)間、傳輸延遲、建立和保持時(shí)間以及存儲(chǔ)時(shí)間等。交流參數(shù)最關(guān)注的是最大測(cè)試速率和重復(fù)性能，然后為準(zhǔn)確度。
1.4 直流參數(shù)測(cè)試
直流測(cè)試是基于歐姆定律的，用來(lái)確定器件參數(shù)的穩(wěn)態(tài)測(cè)試方法。它是以電壓或電流的形式驗(yàn)證電氣參數(shù)。直流參數(shù)測(cè)試包括：接觸測(cè)試、漏電流測(cè)試、轉(zhuǎn)換電平測(cè)試、輸出電平測(cè)試、電源消耗測(cè)試等。
直流測(cè)試常用的測(cè)試方法有加壓測(cè)流（FVMI）和加流測(cè)壓（FIMV）[3]，測(cè)試時(shí)主要考慮測(cè)試準(zhǔn)確度和測(cè)試效率。通過(guò)直流測(cè)試可以判明電路的質(zhì)量。如通過(guò)接觸測(cè)試判別IC引腳的開(kāi)路/短路情況、通過(guò)漏電測(cè)試可以從某方面反映電路的工藝質(zhì)量、通過(guò)轉(zhuǎn)換電平測(cè)試驗(yàn)證電路的驅(qū)動(dòng)能力和抗噪聲能力。
直流測(cè)試是IC測(cè)試的基礎(chǔ)，是檢測(cè)電路性能和可靠性的基本判別手段。
1.5 ATE測(cè)試平臺(tái)
ATE（Automatic Test Equipment）是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備，它是一個(gè)集成電路測(cè)試系統(tǒng)，用來(lái)進(jìn)行IC測(cè)試。一般包括計(jì)算機(jī)和軟件系統(tǒng)、系統(tǒng)總線控制系統(tǒng)、圖形存儲(chǔ)器、圖形控制器、定時(shí)發(fā)生器、精密測(cè)量單元（PMU）、可編程電源和測(cè)試臺(tái)等。
系統(tǒng)控制總線提供測(cè)試系統(tǒng)與計(jì)算機(jī)接口卡的連接。圖形控制器用來(lái)控制測(cè)試圖形的順序流向，是數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)的CPU。它可以提供DUT所需電源、圖形、周期和時(shí)序、驅(qū)動(dòng)電平等信息。
2 測(cè)試向量及其生成
測(cè)試向量（Test Vector）的一個(gè)基本定義是：測(cè)試向量是每個(gè)時(shí)鐘周期應(yīng)用于器件管腳的用于測(cè)試或者操作的邏輯1和邏輯0數(shù)據(jù)。這一定義聽(tīng)起來(lái)似乎很簡(jiǎn)單，但在真實(shí)應(yīng)用中則復(fù)雜得多。因?yàn)檫壿?和邏輯0是由帶定時(shí)特性和電平特性的波形代表的，與波形形狀、脈沖寬度、脈沖邊緣或斜率以及上升沿和下降沿的位置都有關(guān)系。
2.1 ATE測(cè)試向量
在ATE語(yǔ)言中，其測(cè)試向量包含了輸入激勵(lì)和預(yù)期存儲(chǔ)響應(yīng)，通過(guò)把兩者結(jié)合形成ATE的測(cè)試圖形。這些圖形在ATE中是通過(guò)系統(tǒng)時(shí)鐘上升和下降沿、器件管腳對(duì)建立時(shí)間和保持時(shí)間的要求和一定的格式化方式來(lái)表示的。格式化方式一般有RZ（歸零）、RO（歸1）、NRZ（非歸零）和NRZI（非歸零反）等[4]。
圖2為RZ和R1格式化波形，圖3為NRZ和NRZI格式化波形。
RZ數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時(shí)鐘的起始時(shí)間T0，RZ測(cè)試波形保持為“0”，如果在該時(shí)鐘周期圖形存儲(chǔ)器輸出圖形數(shù)據(jù)為“1”，則在該周期的時(shí)鐘周期期間，RZ測(cè)試波形由“0”變換到“1”，時(shí)鐘結(jié)束時(shí)，RZ測(cè)試波形回到“0”。若該時(shí)鐘周期圖形存儲(chǔ)器輸出圖形數(shù)據(jù)為“0”，則RZ測(cè)試波形一直保持為“0”，在時(shí)鐘信號(hào)周期內(nèi)不再發(fā)生變化。歸“1”格式（R1）與RZ相反。
非歸“0”（NRZ）數(shù)據(jù)格式，在系統(tǒng)時(shí)鐘起始時(shí)間T0，NRZ測(cè)試波形保持T0前的波形，根據(jù)本時(shí)鐘周期圖形文件存儲(chǔ)的圖形數(shù)據(jù)在時(shí)鐘的信號(hào)沿變化。即若圖形文件存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為“1”，那么在相應(yīng)時(shí)鐘邊沿，波形則變化為“1”。NRZI波形是NRZ波形的反相。
在ATE中，通過(guò)測(cè)試程序?qū)r(shí)鐘周期、時(shí)鐘前沿、時(shí)鐘后沿和采樣時(shí)間的定義，結(jié)合圖形文件中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)，形成實(shí)際測(cè)試時(shí)所需的測(cè)試向量。
ATE測(cè)試向量與EDA設(shè)計(jì)仿真向量不同，而且不同的ATE，其向量格式也不盡相同。以JC?3165型ATE為例，其向量格式如圖4所示。
ATE向量信息以一定格式的文件保存，JC?3165向量文件為 *.MDC文件。在ATE測(cè)試中，需將*.MDC文件通過(guò)圖形文件編譯器，編譯成測(cè)試程序可識(shí)別的*.MPD文件。在測(cè)試程序中，通過(guò)裝載圖形命令裝載到程序中。
圖4 ATE測(cè)試向量格式
2.2 ATE測(cè)試向量的生成
對(duì)簡(jiǎn)單的集成電路，如門(mén)電路，其ATE測(cè)試向量一般可以按照ATE向量格式手工完成。而對(duì)于一些集成度高，功能復(fù)雜的IC，其向量數(shù)據(jù)龐大，一般不可能依據(jù)其邏輯關(guān)系直接寫(xiě)出所需測(cè)試向量，因此，有必要探尋一種方便可行的方法，完成ATE向量的生成。
在IC設(shè)計(jì)制造產(chǎn)業(yè)中，設(shè)計(jì)、驗(yàn)證和仿真是不可分離的。其ATE測(cè)試向量生成的一種方法是，從基于EDA工具的仿真向量（包含輸入信號(hào)和期望的輸出），經(jīng)過(guò)優(yōu)化和轉(zhuǎn)換，形成ATE格式的測(cè)試向量。
依此，可以建立一種向量生成方法。利用EDA工具建立器件模型，通過(guò)建立一個(gè)Test bench仿真驗(yàn)證平臺(tái)，對(duì)其提供測(cè)試激勵(lì)，進(jìn)行仿真，驗(yàn)證仿真結(jié)果，將輸入激勵(lì)和輸出響應(yīng)存儲(chǔ)，按照ATE向量格式，生成ATE向量文件。其原理如圖5所示。
2.3 測(cè)試平臺(tái)的建立
（1） DUT模型的建立
① 164245模型：在Modelsim工具下用Verilog HDL語(yǔ)言[5]，建立164245模型。164245是一個(gè)雙8位雙向電平轉(zhuǎn)換器，有4個(gè)輸入控制端：1DIR，1OE，2DIR，2OE；4組8位雙向端口：② 緩沖器模型：建立一個(gè)8位緩沖器模型，用來(lái)做Test bench與164245之間的數(shù)據(jù)緩沖，通過(guò)在Test bench總調(diào)用緩沖器模塊，解決Test bench與164245模型之間的數(shù)據(jù)輸入問(wèn)題。
（2） Test bench的建立
依據(jù)器件功能，建立Test bench平臺(tái)，用來(lái)輸入仿真向量。
通過(guò)Test bench 提供測(cè)試激勵(lì)，經(jīng)過(guò)緩沖區(qū)接口送入DUT，觀察DUT輸出響應(yīng)，如果滿足器件功能要求，則存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，經(jīng)過(guò)處理按照ATE圖形文件格式產(chǎn)生*.MDC文件；若輸出響應(yīng)有誤，則返回Test bench 和DUT模型進(jìn)行修正。其原理框圖可表示如圖6所示。
（3） 仿真和驗(yàn)證
通過(guò)Test bench 給予相應(yīng)的測(cè)試激勵(lì)進(jìn)行仿真，得到預(yù)期的結(jié)果，實(shí)現(xiàn)了器件功能仿真，并獲得了測(cè)試圖形。圖7和圖8為部分仿真結(jié)果。
在JC?3165的*.MDC圖形文件中，對(duì)輸入引腳，用“1”和“0”表示高低電平；對(duì)輸出引腳，用“H”和“L”表示高低電平；“X”則表示不關(guān)心狀態(tài)。由于在仿真時(shí)，輸出也是“0”和“1”，因此在驗(yàn)證結(jié)果正確后，對(duì)輸出結(jié)果進(jìn)行了處理，分別將“0”和“1”轉(zhuǎn)換為“L”和“H”，然后放到存儲(chǔ)其中，最后生成*.MDC圖形文件。
3 結(jié) 論
本文在Modelsim環(huán)境下，通過(guò)Verilog HDL語(yǔ)言建立一個(gè)器件模型，搭建一個(gè)驗(yàn)證仿真平臺(tái)，對(duì)164245進(jìn)行了仿真，驗(yàn)證了164245的功能，同時(shí)得到了ATE所需的圖形文件，實(shí)現(xiàn)了預(yù)期所要完成的任務(wù)。
隨著集成電路的發(fā)展，芯片設(shè)計(jì)水平的不斷提高，功能越來(lái)越復(fù)雜，測(cè)試圖形文件也將相當(dāng)復(fù)雜且巨大，編寫(xiě)出全面、有效，且基本覆蓋芯片大多數(shù)功能的測(cè)試圖形文件逐漸成為一種挑戰(zhàn)，在ATE上實(shí)現(xiàn)測(cè)試圖形自動(dòng)生成已不可能。因此，有必要尋找一種能在EDA工具和ATE測(cè)試平臺(tái)之間的一種靈活通訊的方法。
目前常用的一種方法是，通過(guò)提取EDA工具產(chǎn)生的VCD仿真文件中的信息，轉(zhuǎn)換為ATE測(cè)試平臺(tái)所需的測(cè)試圖形文件[6]，這需要對(duì)VCD文件有一定的了解，也是進(jìn)一步的工作。
參考文獻(xiàn)
[1] 陳明亮.數(shù)字集成電路自動(dòng)測(cè)試硬件技術(shù)研究[D].成都：電子科技大學(xué)，2010.
[2] 時(shí)萬(wàn)春.現(xiàn)代集成電路測(cè)試技術(shù)[M].北京：化學(xué)工業(yè)出版社，2006.
[3] 譚永良，伍廣鐘，崔華醒，等.自動(dòng)測(cè)試設(shè)備加流測(cè)壓及加壓測(cè)流的設(shè)計(jì)[J]電子技術(shù)，2011（1）：68?69.
篇12
集成測(cè)試的目的是通過(guò)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)和接口有關(guān)的錯(cuò)誤，即把通過(guò)了單元測(cè)試的模塊組裝起來(lái)測(cè)試。類間存在的多種關(guān)系是測(cè)試順序的一個(gè)重要依據(jù)。選擇不同的測(cè)試順序?qū)Q定著測(cè)試的結(jié)果，如何尋找使得測(cè)試最為有效的測(cè)試順序是面向?qū)ο筌浖蓽y(cè)試的一個(gè)重要問(wèn)題[12]。
本文將類圖中的類內(nèi)信息，類間信息提取出來(lái)，并計(jì)算每個(gè)類的內(nèi)聚度，以及類間耦合度，同時(shí)把每個(gè)類看作有向圖的結(jié)點(diǎn)，類的內(nèi)聚度作為結(jié)點(diǎn)的權(quán)值，類間耦合度作為關(guān)系的權(quán)值，并根據(jù)動(dòng)態(tài)綁定存在的條件，添加可能的類間動(dòng)態(tài)線索。最后利用深度與廣度結(jié)合的遍歷算法遍歷該有向圖生成集成測(cè)試的測(cè)試序列。
1擴(kuò)展有向圖模型的定義
4結(jié)語(yǔ)
本文針對(duì)UML類圖中提取的信息，計(jì)算與類相關(guān)的信息，獲得對(duì)象動(dòng)態(tài)加權(quán)有向圖，然后從有向圖中進(jìn)行遍歷，生成集成測(cè)試測(cè)試序列。該算法不需要去除圖中的環(huán)，生成方法簡(jiǎn)單有效，在實(shí)際需要中得到了驗(yàn)證，但隨著類圖的增加，測(cè)試序列數(shù)量會(huì)加大，導(dǎo)致序列的生成速度有所影響。因此下一步的工作是研究如何進(jìn)行更有效的遍歷，同時(shí)在下一步工作中進(jìn)一步研究類間耦合度和類內(nèi)聚度，使得圖中每個(gè)結(jié)點(diǎn)的權(quán)值獲取和邊的權(quán)值獲取更加的科學(xué)。
參考文獻(xiàn)
[1]JORGENSENPC，ERICKSONC.Objectorientedintegrationtesting[J].CACM，1994，37（9）：3038.
[2]吳靜莉，韓松峰.基于UML集成測(cè)試模型的生成方法[J].微電子學(xué)與計(jì)算機(jī)，2008（7）：913.
[3]陳樹(shù)峰.面向?qū)ο筌浖囊蕾囆苑治雠c回歸測(cè)試[J].計(jì)算機(jī)應(yīng)用，2009（6）：2932，54.
[4]林紅昌，胡覺(jué)亮.基于Petri網(wǎng)的軟件測(cè)試用例的產(chǎn)生和分析[J].計(jì)算機(jī)工程與應(yīng)用，2009（10）：3033.
[5]FOWLERM.UML精粹標(biāo)準(zhǔn)對(duì)象建模語(yǔ)言簡(jiǎn)明指南[M].徐家福，譯.北京：清華大學(xué)出版社，2005.
[6]AIKC，DANIELSFJ.InterclasstestorderforobjectorientedSoftware[J].JournalofObjectOrientedProgramming，1999，12（4）：1825.
篇13
一、案例概述
天津小蜜蜂計(jì)算機(jī)技術(shù)有限公司（簡(jiǎn)稱小蜜蜂公司）成立于2005年，主營(yíng)RFID、通信、無(wú)線、樓宇智能化的系統(tǒng)集成及軟件開(kāi)發(fā)，并致力于成為領(lǐng)先的信息技術(shù)與物聯(lián)網(wǎng)業(yè)務(wù)解決方案供應(yīng)商。小蜜蜂公司一直重視為倉(cāng)儲(chǔ)物流領(lǐng)域提供具有先進(jìn)的技術(shù)產(chǎn)品和服務(wù)，幫助客戶建立智慧型倉(cāng)儲(chǔ)物流管理體系。2017年3月，小蜜蜂公司成功完成了RFID應(yīng)用于某大型物流企業(yè)冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理項(xiàng)目的集成測(cè)試，此次項(xiàng)目測(cè)試主要在客戶的Smart WMS智慧倉(cāng)庫(kù)管理系統(tǒng)中融入RFID技術(shù)，并將該技術(shù)應(yīng)用于冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)業(yè)務(wù)流程中，包括理貨、備貨、標(biāo)識(shí)、入庫(kù)上架、移庫(kù)、出庫(kù)下架等業(yè)務(wù)。小蜜蜂公司旨在通過(guò)此次測(cè)試與客戶一起實(shí)踐，讓客戶真正了解RFID技術(shù)在冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理中的應(yīng)用效果，幫助其有效解決業(yè)務(wù)效率低下、業(yè)務(wù)操作流程混亂、倉(cāng)庫(kù)商品信息不全面、盤(pán)點(diǎn)不精準(zhǔn)等倉(cāng)儲(chǔ)管理問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)對(duì)冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理業(yè)務(wù)的高效管理。
在測(cè)試實(shí)施前，小蜜蜂公司的Smart WMS團(tuán)隊(duì)多次組織項(xiàng)目現(xiàn)場(chǎng)勘察和調(diào)研活動(dòng)，并與客戶積極溝通與交流，為制定合理可行的解決方案做準(zhǔn)備。同時(shí)，小蜜蜂公司成立了專門(mén)的項(xiàng)目小組，并由其制定測(cè)試計(jì)劃表，在測(cè)試準(zhǔn)備期間，小蜜蜂公司團(tuán)隊(duì)對(duì)客戶的倉(cāng)儲(chǔ)管理業(yè)務(wù)流程進(jìn)行了詳細(xì)分析，并按照倉(cāng)儲(chǔ)業(yè)務(wù)流程，進(jìn)行RFID中間件以及應(yīng)用軟件的開(kāi)發(fā)。經(jīng)過(guò)充分的測(cè)試準(zhǔn)備后，小蜜蜂公司團(tuán)隊(duì)開(kāi)始進(jìn)入現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行測(cè)試，工作人員與設(shè)備進(jìn)入倉(cāng)庫(kù)現(xiàn)場(chǎng)后，在叉車(chē)上進(jìn)行RFID設(shè)備集成安裝，并采用公司自主設(shè)計(jì)和制作的鋁合金支架，對(duì)電源、車(chē)載式讀寫(xiě)器、天線、平板電腦等設(shè)備進(jìn)行可調(diào)整式固定。集成安裝完成后，工作人員開(kāi)展了卸貨與碼貨作業(yè)，并在集裝箱內(nèi)、碼貨、取貨叉托盤(pán)過(guò)程中進(jìn)行RFID讀取測(cè)試，進(jìn)而依據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)調(diào)整軟件參數(shù)、天線角度和設(shè)置策略；之后，小蜜蜂公司團(tuán)隊(duì)在每層貨架上安裝了RFID電子貨位標(biāo)簽，并進(jìn)行了上架和下架測(cè)試，進(jìn)一步將貨物讀取標(biāo)簽安裝在叉車(chē)上，以獲取精準(zhǔn)的貨物位置信息，最后通過(guò)平板電腦顯示上述信息。整個(gè)上架和下架測(cè)試持續(xù)了一天半的時(shí)間，期間小蜜蜂團(tuán)隊(duì)多次對(duì)RFID中間件、讀取托盤(pán)標(biāo)簽與貨架標(biāo)簽的天線、參數(shù)設(shè)置分別做出相應(yīng)調(diào)整，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性。完成上述測(cè)試后，小蜜蜂團(tuán)隊(duì)運(yùn)用與測(cè)試相匹配的設(shè)備，陸續(xù)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行了平面?zhèn)}庫(kù)RFID測(cè)試、高位叉車(chē)RFID測(cè)試和自動(dòng)化倉(cāng)庫(kù)固定式RFID讀寫(xiě)器測(cè)試，并取得了較為滿意的數(shù)據(jù)讀取率、數(shù)據(jù)采集靈活度和數(shù)據(jù)反饋效率。
此次RFID技術(shù)應(yīng)用于冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理的測(cè)試項(xiàng)目，是一種以客戶需求和具體環(huán)境為中心的應(yīng)用測(cè)試。測(cè)試對(duì)象包括整個(gè)方案的過(guò)程和結(jié)果，其開(kāi)展的場(chǎng)景與實(shí)際應(yīng)用環(huán)境非常接近。同時(shí)，測(cè)試團(tuán)隊(duì)以實(shí)現(xiàn)精益化冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理為目標(biāo)，將客戶倉(cāng)儲(chǔ)管理業(yè)務(wù)流程與軟件的智能算法相結(jié)合，以確定最佳的解決方案，為RFID應(yīng)用于冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理項(xiàng)目的具體實(shí)施提供了保障。
二、RFID應(yīng)用成功的經(jīng)驗(yàn)做法分析
（一）精準(zhǔn)定位目標(biāo)客戶，滿足多元業(yè)務(wù)需求
天津市小蜜蜂公司在冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理集成中，成功應(yīng)用RFID技術(shù)的主要經(jīng)驗(yàn)之一是準(zhǔn)確定位了應(yīng)用測(cè)試目標(biāo)，滿足客戶I務(wù)需求，從而提供先進(jìn)技術(shù)與商品服務(wù)。在選擇供應(yīng)商方面，小蜜蜂公司優(yōu)先定位了專業(yè)型提供冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)物流服務(wù)的供應(yīng)商。例如，供應(yīng)商具有提供總體供應(yīng)鏈服務(wù)，第三方跨境電商、海關(guān)查驗(yàn)服務(wù)、商檢、高質(zhì)量冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)物流、進(jìn)口食品國(guó)際交易服務(wù)等能力。在定位客戶方面，深入了解與掌握客戶倉(cāng)儲(chǔ)現(xiàn)場(chǎng)工況環(huán)境，客戶期望等。包括，RFID系統(tǒng)的規(guī)劃到設(shè)計(jì)、評(píng)估到實(shí)施，不斷運(yùn)營(yíng)與后續(xù)支持，為客戶提供一種立體化、全方位與靈活處理方案，助力客戶構(gòu)建新時(shí)代智慧的倉(cāng)儲(chǔ)物流管理。例如，個(gè)性化定制開(kāi)發(fā)、軟硬件一體化商品、生命周期管理與咨詢等服務(wù)。通過(guò)應(yīng)用RFID技術(shù)，充分滿足倉(cāng)了儲(chǔ)物流領(lǐng)域的客戶實(shí)際業(yè)務(wù)需求，由此提供優(yōu)質(zhì)商品與服務(wù)。
（二）測(cè)試計(jì)劃周密、準(zhǔn)備充分，提高了RFID應(yīng)用的成功率
為了實(shí)現(xiàn)將RFID技術(shù)成功應(yīng)用于冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理，在測(cè)試實(shí)施前，小蜜蜂公司Smart WMS團(tuán)隊(duì)為此次測(cè)試項(xiàng)目設(shè)立了包括項(xiàng)目經(jīng)理、軟硬件支持人員的專門(mén)項(xiàng)目小組，并由其制定測(cè)試計(jì)劃表。項(xiàng)目小組依據(jù)客戶的冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理需求、業(yè)務(wù)流程以及預(yù)計(jì)效益，制定了測(cè)試目標(biāo)，以及涵蓋約200個(gè)測(cè)試事項(xiàng)的計(jì)劃表，為具體測(cè)試提供了參照依據(jù)，從而提高測(cè)試成功率。同時(shí)，在測(cè)試前，Smart WMS團(tuán)隊(duì)多次到項(xiàng)目現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行考察和調(diào)研，并與客戶積極溝通與交流，充分了解客戶倉(cāng)儲(chǔ)現(xiàn)場(chǎng)的工況環(huán)境和倉(cāng)儲(chǔ)管理業(yè)務(wù)操作流程，并進(jìn)一步結(jié)合關(guān)于RFID應(yīng)用的智能算法、過(guò)濾機(jī)制等，開(kāi)發(fā)與倉(cāng)儲(chǔ)現(xiàn)場(chǎng)相適應(yīng)的手持、車(chē)載、固定式RFID中間件以及測(cè)試Demo應(yīng)用軟件，提升RFID與客戶冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理系統(tǒng)的匹配度。此外，在測(cè)試準(zhǔn)備過(guò)程中，小蜜蜂公司與多家讀寫(xiě)設(shè)備、各類標(biāo)簽等硬件的供應(yīng)商合作，選用高性能RFID設(shè)備，并為叉車(chē)、托盤(pán)與自動(dòng)化倉(cāng)庫(kù)中準(zhǔn)備了相應(yīng)的先進(jìn)配件，以此推進(jìn)RFID在冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理體系中的運(yùn)用，提高客戶倉(cāng)儲(chǔ)業(yè)務(wù)的效率。
（三）測(cè)試環(huán)節(jié)覆蓋較廣，有效規(guī)避了應(yīng)用的不確定性
此次測(cè)試項(xiàng)目中，小蜜蜂公司將RFID全面融入到客戶冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理系統(tǒng)中，測(cè)試環(huán)節(jié)包括叉托盤(pán)測(cè)試、上架和下架測(cè)試、平面?zhèn)}庫(kù)測(cè)試、高位叉車(chē)測(cè)試以及固定式讀寫(xiě)器測(cè)試。并且，項(xiàng)目小組在每個(gè)環(huán)節(jié)中均開(kāi)展了全方位的測(cè)試內(nèi)容，例如，在上架與下架測(cè)試中，工作人員在叉車(chē)上安裝了貨物讀取標(biāo)簽，以獲取貨物位置信息，規(guī)避RFID在冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理中應(yīng)用的不確定性；針對(duì)貨物上架的具體測(cè)試操作，相關(guān)工作人員先后對(duì)貨物標(biāo)簽、貨位標(biāo)簽分別進(jìn)行掃描，掃描數(shù)據(jù)通過(guò)無(wú)線網(wǎng)路與數(shù)據(jù)庫(kù)通訊進(jìn)行比對(duì)，確認(rèn)數(shù)據(jù)無(wú)誤后，完成上架；針對(duì)貨物下架的具體測(cè)試操作，工作人員依據(jù)下架任務(wù)找到貨物后進(jìn)行掃描，進(jìn)而完成下架操作。再如，對(duì)平面?zhèn)}庫(kù)進(jìn)行測(cè)試時(shí)，根據(jù)此倉(cāng)庫(kù)貨物需要用鐵框托盤(pán)進(jìn)行堆疊碼放的特征，測(cè)試小組在鐵框托盤(pán)上安裝了抗金屬標(biāo)簽，并進(jìn)行高層和底層的托盤(pán)讀取測(cè)試，同時(shí)，將貨位標(biāo)簽作為地標(biāo)安放在貨物前面的地上，開(kāi)展地面RFID標(biāo)簽測(cè)試。總體來(lái)看，小蜜蜂公司對(duì)冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理不同環(huán)節(jié)進(jìn)行了RFID應(yīng)用測(cè)試，有效規(guī)避了不同情況下RFID應(yīng)用的不確定性，從而實(shí)現(xiàn)倉(cāng)儲(chǔ)管理可視化、全局化和協(xié)同化。
（四）有效運(yùn)用多方協(xié)作模式，場(chǎng)景選擇接近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，提高測(cè)試結(jié)果的可靠性
在此次項(xiàng)目測(cè)試中，小蜜蜂公司充分運(yùn)用多方協(xié)作模式，場(chǎng)景選擇接近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，提高測(cè)試結(jié)果的可靠性是成功將RFID技術(shù)應(yīng)用于冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)管理集成的主要經(jīng)驗(yàn)之一。例如，在Smart WMS業(yè)務(wù)發(fā)展中，采用“聯(lián)系+發(fā)展”的協(xié)作模式，創(chuàng)建各行業(yè)倉(cāng)庫(kù)管理過(guò)程中入庫(kù)、退庫(kù)、調(diào)撥等核心業(yè)務(wù)環(huán)節(jié)，以及各方面專業(yè)人才的協(xié)同配合，形成了企業(yè)倉(cāng)庫(kù)管理完整體系。此外，整個(gè)方案過(guò)程和結(jié)果的測(cè)試場(chǎng)景選擇與部署，接近實(shí)際應(yīng)用環(huán)境，有效保證了測(cè)試結(jié)果的可靠性。具體而言，在現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試環(huán)節(jié)中，倉(cāng)庫(kù)穿廊的地方溫度為-4℃至-5℃，庫(kù)房?jī)?nèi)部恒溫在-20℃以下，持續(xù)性測(cè)試了4-5天。并且，在實(shí)際現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試過(guò)程中，安裝了相應(yīng)測(cè)試設(shè)備，對(duì)不同場(chǎng)景與倉(cāng)庫(kù)進(jìn)行全方位測(cè)試，由此為測(cè)試的成功提供了進(jìn)一步保障。
三、幾點(diǎn)啟示
（一）加大RFID技術(shù)的科研投入，提升物流倉(cāng)儲(chǔ)管理水平
RFID企業(yè)應(yīng)加大RFID的科研力度，加速RFID創(chuàng)新，尤其是技術(shù)創(chuàng)新、生產(chǎn)創(chuàng)新、應(yīng)用創(chuàng)新，以及中間件的發(fā)展創(chuàng)新，提升物流倉(cāng)儲(chǔ)管理水平。一方面，企業(yè)應(yīng)加大RFID傳感器網(wǎng)絡(luò)與通信網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的研發(fā)投入，增加擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的技術(shù)和產(chǎn)品數(shù)量。并且，應(yīng)針對(duì)物流倉(cāng)儲(chǔ)管理產(chǎn)品，研發(fā)新一代RFID標(biāo)簽檢測(cè)儀，運(yùn)用物流識(shí)別檢測(cè)技術(shù)，進(jìn)行完整準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、物流倉(cāng)儲(chǔ)分類細(xì)化與環(huán)境識(shí)別，從而減少物流倉(cāng)儲(chǔ)損失。另一方面，研發(fā)企業(yè)要加大RFID遠(yuǎn)距離快速讀取技術(shù)的創(chuàng)新力度，建立RFID的貨物管理平臺(tái)，通過(guò)對(duì)貨物入庫(kù)、出庫(kù)、盤(pán)點(diǎn)等核心業(yè)務(wù)優(yōu)化升級(jí)，提升物流倉(cāng)庫(kù)管理業(yè)務(wù)水平。同時(shí)，企業(yè)應(yīng)加大RFID的自動(dòng)識(shí)別功能技術(shù)的研發(fā)力度，提供貨物實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)消息，實(shí)現(xiàn)信息及時(shí)共享；創(chuàng)建準(zhǔn)確性、盈利性和客戶滿意的物流倉(cāng)儲(chǔ)管理，實(shí)現(xiàn)物流倉(cāng)儲(chǔ)管理水平的提升。
（二）優(yōu)化基于RFID的物流管理信息系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)控貨物冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)信息
將RFID應(yīng)用于物流信息系統(tǒng)中，可以發(fā)揮其自動(dòng)識(shí)別與精準(zhǔn)定位等功能，實(shí)時(shí)監(jiān)控貨物在物流全過(guò)程的相關(guān)信息。由此，企業(yè)應(yīng)不斷優(yōu)化基于RFID的物流管理信息系統(tǒng)的硬件構(gòu)成，包括電子標(biāo)簽、讀寫(xiě)器、中間件與服務(wù)器等，大幅提高冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)環(huán)節(jié)貨物信息采集的及時(shí)性與準(zhǔn)確性。具體而言，可通過(guò)優(yōu)化電子標(biāo)簽方式，擴(kuò)大讀寫(xiě)器作業(yè)范圍，精確過(guò)濾和整理倉(cāng)儲(chǔ)入庫(kù)貨物數(shù)據(jù)，并對(duì)各個(gè)車(chē)間的倉(cāng)儲(chǔ)信息進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控、定位和追蹤。同時(shí)，在物流管理信息系統(tǒng)中，應(yīng)將RFID技術(shù)與MES相結(jié)合，實(shí)時(shí)控制冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)的各個(gè)環(huán)節(jié)，保證物流順利開(kāi)展。例如，應(yīng)借助安裝于各個(gè)車(chē)間的讀寫(xiě)器，實(shí)時(shí)讀取與傳輸各類倉(cāng)儲(chǔ)信息與數(shù)據(jù)；借助MES的實(shí)時(shí)監(jiān)控功能，進(jìn)行貨物冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)工作的指令下達(dá)與調(diào)度，提高物流管理信息系統(tǒng)的自踴與信息化程度。通過(guò)優(yōu)化此系統(tǒng)方式，可以實(shí)時(shí)監(jiān)督與調(diào)控貨物的冷鏈倉(cāng)儲(chǔ)信息，提高整體物流效率。
（三）加強(qiáng)RFID安全系統(tǒng)建設(shè)，保護(hù)客戶隱私數(shù)據(jù)與信息
